[发明专利]用于测量电特性参数的装置和方法

权利要求书

1.一种用于测量电特性参数的装置(1)，具有：将模拟信号(U_in)转换 成第一比特流(MDAT_1)的第一转换器单元(2)，其中该第一转换器单元(2) 是Sigma-Delta调制器(2)；将模拟信号(U_in)转换成第二比特流(MDAT_2) 的第二转换器单元(4)，其中该第二转换器单元(4)是Sigma-Delta调制 器(4)；以及至少一个用于对由这些转换器单元(2，4)所输出的比特流 (MDAT_1，MDAT_2)进行处理的分析处理逻辑电路(6)，其中该分析处理逻 辑电路(6)具有至少一个积分环节(12a，12b，12c)和连接在所述至少一 个积分环节(12a，12b，12c)后面的差分环节(14b，14c)，

其特征在于，

所述分析处理逻辑电路(6)处理这两个转换器单元(2，4)的比特流 (MDAT_1，MDAT_2)，并且这些转换器单元(2，4)分别具有用于时钟信号 的输入端，其中设置有时钟发生器装置，所述时钟发生器装置以预给定的相 互关系为该第一转换器单元(2)和该第二转换器单元(4)提供时钟。

2.根据权利要求1所述的装置(1)，

其特征在于，

该分析处理逻辑电路(6)具有至少一个可寻址存储元件(16a，16b，16c)。

3.根据权利要求2所述的装置，

其特征在于，

所述可寻址存储元件(16a，16b，16c)连接在该分析处理逻辑电路(6) 的积分环节(12a，12b，12c)的后面。

4.根据权利要求1至3之一所述的装置，

其特征在于，

设置有多个可寻址存储元件(16a，16b，16c)，并且以相同的时钟来运 行这些存储元件(16a，16b，16c)。

5.根据权利要求1至3之一所述的装置(1)，

其特征在于，

该分析处理逻辑电路(6)具有阶数为k的正弦滤波器(6)，其中k大于 1。

6.根据权利要求1至3之一所述的装置，

其特征在于，

为这些转换器单元(2，4)提供相同的时钟。

7.根据权利要求1至3之一所述的装置，

其特征在于，

所述装置具有用于暂时存储比特流(MDAT_1，MDAT_2)的存储装置。

8.根据权利要求1至3之一所述的装置，

其特征在于，

所述分析处理逻辑电路具有多个积分单元(12a，12b，12c)，并且每个 积分单元后面分别连接有可寻址存储元件(16a，16b，16c)。

9.根据权利要求2至3之一所述的装置，

其特征在于，

以与运行所述可寻址存储元件(16a，16b，16c)的时钟不同的时钟来运 行至少一个连接在差分环节(14b，14c)后面的另外的可寻址存储元件(20a， 20b，20c)。

10.根据权利要求1至3之一所述的装置，

其特征在于，

在积分环节(12a，12b，12c)和差分环节(14b，14c)之间设置有多路 复用器(34)。

11.一种用于分析处理多个转换器装置(2，4)的比特流(MDAT_1，MDAT_2) 的分析处理逻辑电路，其中所述分析处理逻辑电路(6)具有至少一个积分环 节(12)和连接在所述积分环节(12)后面的差分环节(14)，

其特征在于，

所述分析处理逻辑电路(6)处理两个转换器单元(2，4)的比特流 (MDAT_1，MDAT_2)，并且这些转换器单元(2，4)分别具有用于时钟信号 的输入端，其中设置有时钟发生器装置(10)，所述时钟发生器装置(10)以 预给定的相互关系为第一转换器单元(2)和第二转换器单元(4)提供时钟。