[发明专利]显示装置

说明书

技术领域

本发明涉及显示装置。具体地说，本发明涉及一种能够以高速度和高 精度校正图像残留(image sticking)的显示装置。

背景技术

近年来，加快开发了采用有机EL(电致发光)器件作为发光元件的 自发光平板显示器。有机电致发光器件具有二极管特性并且利用有机薄膜 响应于施加至其上的电场而发光的现象。有机电致发光器件可以由施加的 10V或更低的电压驱动，因此具有低功率消耗。此外，有机电致发光器件 是自发光元件，自发光元件通过自身发光而无需发光体，这允许减小显示 装置的重量和厚度。此外，有机电致发光器件的响应速度非常快，达若干 微秒，这在显示运动图像时不会引起图像滞后。

在为像素使用有机电致发光器件的自发光平板显示面板中，有源矩阵 自发光平板显示面板的发展是显著的。例如，在日本待审专利申请公开 No.2003-255856、No.2003-271095、No.2004-133240、No.2004-029791 以及No.2004-093682中公开了这样的有源矩阵自发光平板显示面板。

发明内容

然而，有机电致发光器件的特征在于发光效率随发光量和发光时间增 加而降低。由于有机电致发光器件的亮度是电流和发光效率的乘积，因此 发光效率的降低使亮度下降。显示由具有相同外观的各个像素构成的图像 是不可能的。通常，各个像素具有不同的发光量。因此，即使在相同的驱 动条件下，取决于以往发光时间的长度和发光量，各个像素呈现出不同程 度的亮度下降。结果，可以在视觉上识别出亮度的不均匀下降。这种现象 称作图像残留。

存在开发出的技术，通过测量各个像素的亮度并且补偿由图像残留而 导致的亮度下降来防止有机电致发光面板中的图像残留。然而，根据相关 技术的图像残留补偿技术可能无法对图像残留产生足够的补偿。

鉴于上述情况做出了本发明。因此，需要一种用于以高速度和高精度 执行图像残留补偿的技术。

根据本发明实施例的显示装置包括面板和光电检测器，在面板中被自 发光元件照亮的多个像素布置成阵列；光电检测器被布置在面板的后表面 上，用于测量像素的亮度。所述像素中的每个像素都具有在发光层下面提 供的反射层上形成的开口部分，以透射来自发光层的光。

在该显示装置中，所述像素中的每个像素至少包括：发光元件，具有 二极管特性并且根据驱动电流来发光；采样晶体管，被配置为对视频信号 进行采样；驱动晶体管，被配置为将驱动电流提供给发光元件；以及保持 预定的电势的存储电容器，连接到发光元件的阳极和驱动晶体管的栅极。 驱动晶体管或采样晶体管的栅极电极被布置为离开开口部分正下方的位 置。

根据本发明的实施例，该显示装置还可包括：操作单元，被配置为基 于由光电检测器测得的像素亮度来计算用于补偿由像素老化而导致的亮 度下降的补偿数据；以及驱动控制单元，被配置为将基于补偿数据对由像 素老化而导致的亮度下降进行了补偿的视频信号提供给像素。

根据本发明的实施例，提供了面板和光电检测器，在面板中被自发光 元件照亮的多个像素布置在阵列中；光电检测器被布置在面板的后表面 上，用于测量像素的亮度。所述像素中的每个像素都具有在发光层下面提 供的反射层上形成的开口部分，以透射来自发光层的光。

根据本发明的实施例，可以以高速度和高精度执行图像残留补偿。

附图说明

图1是示出根据本发明实施例的显示装置的配置示例的框图；

图2是示出电致发光面板的配置示例的框图；

图3示出由像素表示的颜色的布置；

图4是示出像素的详细电路配置的框图；

图5是示出对像素的操作的时序图；

图6是示出对像素的操作的另一示例的时序图；

图7是与图像残留补偿控制相关的显示装置的功能框图；

图8是示出初始数据获取处理的过程的流程图；

图9是示出补偿数据获取处理的过程的流程图；

图10示出根据相关技术的像素的示意性截面图和顶视图；

图11示出在电致发光面板的显示表面上检测到的亮度与在其后表面上 检测到的亮度之间的差异；

图12示出图4所示的像素的示意性截面图和顶视图；

图13示出图12所示的像素的模式配置的效果；以及