[发明专利]阿基米德螺旋凸轮轮廓曲线的等分度测量方法无效
申请号: | 200910179585.7 | 申请日: | 2009-09-30 |
公开(公告)号: | CN102032888A | 公开(公告)日: | 2011-04-27 |
发明(设计)人: | 李存华;祁跃东;吕小波 | 申请(专利权)人: | 红塔烟草(集团)有限责任公司 |
主分类号: | G01B21/20 | 分类号: | G01B21/20 |
代理公司: | 中国商标专利事务所有限公司 11234 | 代理人: | 宋义兴 |
地址: | 653100 云*** | 国省代码: | 云南;53 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 阿基米德 螺旋 凸轮 轮廓 曲线 分度 测量方法 | ||
1.一种阿基米德螺旋凸轮轮廓曲线的等分度测量方法,其特征在于,包括下述步骤:
在阿基米德螺旋凸轮面上建立测量坐标系;
采用等分度测量方法测量阿基米德螺旋凸轮轮廓曲线。
2.根据权利要求1所述的阿基米德螺旋凸轮轮廓曲线的等分度测量方法,其特征在于,所述在阿基米德螺旋凸轮面上建立测量坐标系的步骤进一步包括以下步骤:
1)在阿基米德螺旋凸轮面的测量坐标系中使用极坐标系;
2)极坐标系的原点设在阿基米德螺旋凸轮的基圆中心。
3.根据权利要求1所述的阿基米德螺旋凸轮轮廓曲线的等分度测量方法,其特征在于,所述采用等分度测量方法测量阿基米德螺旋凸轮轮廓曲线的步骤进一步包括以下步骤:
3)关闭测针半径补偿,计算测量点数M;
4)确定第一定位点P1的坐标位置,预先确定其极半径R1,极角W,Z坐标为Z1;利用测量机使测针从P1位置沿径向方向趋近测量,测量的矢量方向指向原点,测量第一测量点的坐标,得到第一测量目标点A1的坐标;
5)测针退回P1点,计算下一个测量目标点A2,A2的极半径取A1的极半径,Z坐标取A1的Z坐标,A1点和A2点投影在XOY坐标系中的极角差值为θ,即r2=r1,Φ2=w+θ,z2=z1;
6)移动到第二定位点P2,R2=R1,Φ2=W+θ,Z2=Z1;
7)利用测量机使测针从P2位置沿径向方向趋近测量,测量的矢量方向指向原点,测量第二测量点的坐标,得到第二测量目标点A2的坐标;
8)利用第j测量目标点Aj坐标的计算公式:rj=rj-1,Φj=W+(j-1)θ,zj=z1,第j定位点Pj的坐标为:Rj=Rj-1,Φj=W+(j-1)θ,Zj=Z1,重复步骤5)~7),测量A3,A4,A5......,直到整个阿基米德凸轮轮廓曲线测量完毕;
9)测量阿基米德螺旋曲线在Z坐标上没有升程时,Z坐标变化设定为常数,Z坐标上有升程,Z坐标按升程规律确定,Zj=Zj-1+a(a为每变化θ时的常数),或函数Zj=f(θ);
4.根据权利要求1所述的阿基米德螺旋凸轮轮廓曲线的等分度测量方法,其特征在于,所述采用等分度测量方法测量阿基米德螺旋凸轮轮廓曲线的步骤进一步包括以下步骤:
10)轮廓曲线测量完毕即生成数据文件,类型为ISO-G型和SCN型,能被通用软件的读取,并可在应用软件中完成测针半径补偿,在CAD/CAM中完成逆向工程。
5.根据权利要求1所述的阿基米德螺旋凸轮轮廓曲线的等分度测量方法,其特征在于,所述采用等分度测量方法测量阿基米德螺旋凸轮轮廓曲线的步骤进一步包括以下步骤:
11)利用所生成数据文件,可完成该曲线的检验及任意曲线范围内的阿基米德螺旋曲线的回归分析,如回归方程确定、方差分析及F检验等,回归分析可针对任意凸轮二维曲线。
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