[发明专利]缺陷像素检测纠正设备、系统及检测纠正缺陷像素的方法

权利要求书

1.一种缺陷像素检测纠正设备，与一传感器连接，该传感 器中的多个像素的数字像素信号被输入至所述缺陷像素检测纠 正设备的平移模块，其特征在于，所述缺陷像素检测纠正设备 至少包括：

所述平移模块，用于通过增加或减少偏移量来缩放所述数 字像素信号，缩放后的数字像素信号被输入至检测模块；

所述检测模块，区分该传感器中的多个像素中的缺陷像素， 并存储该缺陷像素的位置信息；和

纠正模块，连接至所述检测模块，用来根据所述位置信息 确认所述缺陷像素，并纠正所述缺陷像素对应的数字像素信号。

2.根据权利要求1所述的缺陷像素检测纠正设备，其特征 在于，所述检测模块将所述缩放后的数字像素信号与一既定接 受范围相比较，若所述缩放后的数字像素信号中的一像素的数 字像素信号在所述纠正之前在所述既定接受范围之外，所述像 素被区分为缺陷像素。

3.根据权利要求2所述的缺陷像素检测纠正设备，其特征 在于，所述检测模块根据所述既定接受范围的变化进行更新。

4.根据权利要求2所述的缺陷像素检测纠正设备，其特征 在于，所述既定接受范围至少包括一个第一预定阈值和第二预 定阈值。

5.根据权利要求1所述的缺陷像素检测纠正设备，其特征 在于，所述检测模块从一个位置计数器接收所述位置信息。

6.根据权利要求5所述的缺陷像素检测纠正设备，其特征 在于，所述位置计数器为所述缺陷像素提供坐标。

7.根据权利要求1所述的缺陷像素检测纠正设备，其特征 在于，所述纠正模块根据一算法提供一纠正参数，其中所述纠 正模块根据所述纠正参数纠正所述缺陷像素对应的数字像素信 号。

8.根据权利要求7所述的缺陷像素检测纠正设备，其特征 在于，所述算法为利用一像素矩阵的矩阵算法。

9.根据权利要求1所述的缺陷像素检测纠正设备，其特征 在于，所述检测模块包括：数据缓冲器、像素值比较器及位置 计数器；其中，

所述数据缓冲器用于接收所述缩放后的数字像素信号并将 接收的数字像素信号传送至所述像素值比较器；

所述像素值比较器用于将接收的数字像素信号与一个亮点 阈值或者一个暗点阈值相比较，如果接收的数字像素信号不属 于所述亮点阈值和所述暗点阈值构成的既定范围，则判断该接 收的数字像素信号对应的像素为缺陷像素；

所述位置计数器用于获取所述缺陷像素对应的位置信息。

10.根据权利要求1所述的缺陷像素检测纠正设备，其特征 在于，所述纠正模块包括：缺陷像素分析模块和缺陷像素纠正 模块；

所述缺陷像素分析模块用于接收包含水平及竖直坐标信息 的所述缩放后的数字像素信号，并将每一像素的坐标信息与存 储在缺陷像素存储器中的缺陷像素的坐标信息相比较，若所述 像素的坐标信息与所述缺陷像素的坐标信息相匹配，则根据算 法生成一个纠正参数；

所述缺陷像素纠正模块用于接收所述纠正参数并利用所述 纠正参数纠正所述缺陷像素，并输出已纠正数字像素信号至视 频处理器。

11.根据权利要求10所述的缺陷像素检测纠正设备，其特 征在于，所述缺陷像素分析模块包括：行计数器、列计数器、 数据缓冲器、坐标比较器、纠正参数模块和像素插值器，其中， 所述缺陷像素存储器为所述坐标比较器提供缺陷像素的水平坐 标和竖直坐标，用来将所述水平坐标和所述竖直坐标与所述行 计数器和所述列计数器提供的像素的水平坐标和竖直坐标相比 较，如果该像素的坐标值与所述缺陷像素的坐标值相匹配，所 述纠正参数模块根据一算法生成所述纠正参数，所述像素插值 器用于在所述缩放后的数字像素信号输入所述缺陷像素纠正模 块之前对所述缩放后的数字像素信号进行处理。