[发明专利]一种氮化镓晶体抛光的方法有效
申请号: | 200910180529.5 | 申请日: | 2009-10-19 |
公开(公告)号: | CN101673668A | 公开(公告)日: | 2010-03-17 |
发明(设计)人: | 李强;徐永宽;程红娟;殷海丰;于祥潞;杨丹丹;赖占平;严如岳 | 申请(专利权)人: | 中国电子科技集团公司第四十六研究所 |
主分类号: | H01L21/00 | 分类号: | H01L21/00;H01L21/302;B24B37/04;B24B29/02 |
代理公司: | 信息产业部电子专利中心 | 代理人: | 梁 军 |
地址: | 300220*** | 国省代码: | 天津;12 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 氮化 晶体 抛光 方法 | ||
1.一种氮化镓晶体抛光的方法,其特征在于,所述方法包括以下步骤:
将氮化镓晶片粘贴在石英板上;
用研磨机对粘贴在石英板上的氮化镓晶片进行研磨;
把抛光垫贴在抛光盘上,用环型重物把贴有氮化镓晶片的石英板压在抛光 垫上,使紫外光从环形重物上方透过,照在氮化镓晶片上,对抛光液加热;启 动抛光机,使研磨盘旋转进而带动氮化镓晶片以及环型重物旋转进行抛光;其 中,环型重物的压力为100-500g/cm2。
2.如权利要求1所述的氮化镓晶体抛光的方法,其特征在于,将氮化镓 晶片粘贴在石英板上,具体为:
将石英板在加热器上加热,把蜡均匀的涂抹其上,再把氮化镓晶片粘在蜡 上按实,停止加热,待蜡凝固后,将多余的蜡清除掉,完成贴片。
3.如权利要求1所述的氮化镓晶体抛光的方法,其特征在于,将所述氮 化镓晶片粘贴在所述石英板的中央。
4.如权利要求1所述的氮化镓晶体抛光的方法,其特征在于,将所述氮 化镓晶片均匀粘贴在所述石英板的四周,且与所述石英板边缘保持至少2mm 的距离。
5.如权利要求1所述的氮化镓晶体抛光的方法,其特征在于,对所述氮 化镓晶片进行研磨的方法是:
采用不同粒径的磨料对所述氮化镓晶片进行多次研磨。
6.如权利要求5所述的氮化镓晶体抛光的方法,其特征在于,所述磨料 立方碳化硼、碳化硅、刚玉粉。
7.如权利要求1所述的氮化镓晶体抛光的方法,其特征在于,所述抛光 为粗抛,粗抛抛光液为粒径为80nm的Al2O3抛光液,其中加入5%的三氯异氰 脲酸。
8.如权利要求7所述的氮化镓晶体抛光的方法,其特征在于,在粗抛之 后,还包括细抛,细抛的抛光液采用粒径为25-26nm的SiO2抛光液,其中加 入5%的H2O2。
9.如权利要求1所述的氮化镓晶体抛光的方法,其特征在于,所述抛光 液的温度为30-90℃。
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
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H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
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