[发明专利]一种氮化镓晶体抛光的方法有效

专利信息
申请号: 200910180529.5 申请日: 2009-10-19
公开(公告)号: CN101673668A 公开(公告)日: 2010-03-17
发明(设计)人: 李强;徐永宽;程红娟;殷海丰;于祥潞;杨丹丹;赖占平;严如岳 申请(专利权)人: 中国电子科技集团公司第四十六研究所
主分类号: H01L21/00 分类号: H01L21/00;H01L21/302;B24B37/04;B24B29/02
代理公司: 信息产业部电子专利中心 代理人: 梁 军
地址: 300220*** 国省代码: 天津;12
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摘要:
搜索关键词: 一种 氮化 晶体 抛光 方法
【权利要求书】:

1.一种氮化镓晶体抛光的方法,其特征在于,所述方法包括以下步骤:

将氮化镓晶片粘贴在石英板上;

用研磨机对粘贴在石英板上的氮化镓晶片进行研磨;

把抛光垫贴在抛光盘上,用环型重物把贴有氮化镓晶片的石英板压在抛光 垫上,使紫外光从环形重物上方透过,照在氮化镓晶片上,对抛光液加热;启 动抛光机,使研磨盘旋转进而带动氮化镓晶片以及环型重物旋转进行抛光;其 中,环型重物的压力为100-500g/cm2

2.如权利要求1所述的氮化镓晶体抛光的方法,其特征在于,将氮化镓 晶片粘贴在石英板上,具体为:

将石英板在加热器上加热,把蜡均匀的涂抹其上,再把氮化镓晶片粘在蜡 上按实,停止加热,待蜡凝固后,将多余的蜡清除掉,完成贴片。

3.如权利要求1所述的氮化镓晶体抛光的方法,其特征在于,将所述氮 化镓晶片粘贴在所述石英板的中央。

4.如权利要求1所述的氮化镓晶体抛光的方法,其特征在于,将所述氮 化镓晶片均匀粘贴在所述石英板的四周,且与所述石英板边缘保持至少2mm 的距离。

5.如权利要求1所述的氮化镓晶体抛光的方法,其特征在于,对所述氮 化镓晶片进行研磨的方法是:

采用不同粒径的磨料对所述氮化镓晶片进行多次研磨。

6.如权利要求5所述的氮化镓晶体抛光的方法,其特征在于,所述磨料 立方碳化硼、碳化硅、刚玉粉。

7.如权利要求1所述的氮化镓晶体抛光的方法,其特征在于,所述抛光 为粗抛,粗抛抛光液为粒径为80nm的Al2O3抛光液,其中加入5%的三氯异氰 脲酸。

8.如权利要求7所述的氮化镓晶体抛光的方法,其特征在于,在粗抛之 后,还包括细抛,细抛的抛光液采用粒径为25-26nm的SiO2抛光液,其中加 入5%的H2O2。

9.如权利要求1所述的氮化镓晶体抛光的方法,其特征在于,所述抛光 液的温度为30-90℃。

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