[发明专利]用于原子荧光光谱仪双道或多道道间干扰消除电路

说明书

技术领域

本发明涉及一种电路，特别涉及一种用于原子荧光光谱仪双道或多道道间干扰消除电路

背景技术

原子荧光光谱分析是20世纪60年代中期提出并发展起来的光谱分析技术，是原子光谱法中的一个重要分支，它是原子吸收和原子发射光谱的综合与发展，是一种优良的痕量分析技术。

现有技术中，原子荧光光谱仪主要用于检测Hg，As、Se、Te、Bi、Sb、Sn或其他元素的ppt级检测，其被广泛应用于环境保护、临床医学、农业、地质冶金、制药行业、石化行业等行业，其不仅可以测定金属元素，而且也可以被间接用来测定非金属元素和有机化合物。原子荧光光谱分析法(AFS)是利用原子荧光谱线的波长和强度进行物质的定性及定量分析方法，它的基本原理是原子蒸气吸收特征波长的光辐射之后，原子被激发至高能级，然后回到基态时便发射出一定波长的原子荧光，再依据荧光的强度分析所测元素的含量。原子荧光光谱仪的基本结构包括激发光源、原子化系统、分光工艺及系统、检测器、信号放大器以及数据处理器等部分。

原子荧光光谱仪的道间干扰是检验仪器的重要指标，也是对仪器实用性的重要要求。现有商用双道或多道原子荧光光谱仪的道间干扰指标，国家标准规定为不大于2％，这对于大多数厂家来说是个很难做到的事情。大多数厂家的解决办法是采用扣除技术，对干扰进行扣除。如中国实用新型专利(专利号：200520122224.6)就公开了一种双道原子荧光光谱无道间干扰检测电路，该电路包括接受A、B双道原子荧光信号的光电倍增管、第一单片和第二单片机。光电倍增管通过放大模块与第一单片机相连，第一单片机接有用于与上位机相连的通讯模块。第二单片机输出由两个脉冲构成的时序控制信号至第一单片机，第一脉冲用于控制第一单片机对放大模块的原子荧光信号底值的AD转换，第二个脉冲用于控制第一单片机对放大模块的信号峰值的AD转换，第一单片机将原子荧光信号的峰值与底值的差值经通信模块传送给上位机。这种干扰检测电路采用差减式采样方式，来消除双道间原子荧光信号的干扰现象。

但从上述描述可知，这种电路一般实现手段较为复杂，而且操作不便，对消除双道间原子荧光信号的干扰现象，提高双道原子荧光光谱仪的测量精度可以说是治标不治本。

发明内容

针对上述现有技术的不足，本发明要解决的技术问题是提供一种新型结构的用于原子荧光光谱仪双道或多道道间干扰消除电路，该电路结构简单，能有效解决现有原子荧光光谱仪双道或多道道间干扰消除问题。

为解决上述技术问题，本发明采用如下技术方案：

一种用于原子荧光光谱仪双道或多道道间干扰消除电路，包括一信号输入端和一信号输出端，所述信号输入点通过第一电容与第一电阻、第二电容连接，所述第二电容的另一端与与一放大器的正极连接，并通过一第二电阻接地，所述第一电阻的另一端与所述放大器的负极连接，所述放大器输出端与所述信号输出端连接，所述第一电容上并连有一第三电阻。

优选的，所述第三电阻为一可调电阻。

上述技术方案具有如下有益效果：在该电路中通过放大器的前方加入一级可调电位器与放大器的第一阶电容并联，通过调节这个电位器，我们可以将放大器产生的前一个脉冲信号的反向过冲对下一级的干扰完全消除，从而达到消除仪器道间干扰的目的。最终的实验证明，该电路对于消除道间干扰效果明显。而且该电路结构简单，易于实现。

上述说明仅是本发明技术方案的概述，为了能够更清楚了解本发明的技术手段，并可依照说明书的内容予以实施，以下以本发明的较佳实施例并配合附图详细说明如后。本发明的具体实施方式由以下实施例及其附图详细给出。

附图说明

图1为本发明的电路结构示意图。

图2为未采用本电路时信号输出端的信号波形图。

图3为采用本电路时信号输出端的信号波形图。

具体实施方式

下面结合附图，对本发明的优选实施例进行详细的介绍。

如图1所示，该电路包括一信号输入端和一信号输出端，信号输入点通过第一电容C103与第一电阻R101、第二电容C104连接，第二电容104的另一端与与一放大器的正极3连接，并通过一第二电阻R105接地，第一电阻R101的另一端与放大器的负极2连接，放大器输出端6与信号输出端连接，第一电容C103上并连有一可调节第三电阻R102。