[发明专利]基于N型硅片的黄铜矿类半导体薄膜异质结太阳电池无效
申请号: | 200910183865.5 | 申请日: | 2009-08-03 |
公开(公告)号: | CN101621084A | 公开(公告)日: | 2010-01-06 |
发明(设计)人: | 吴坚;王栩生;章灵军 | 申请(专利权)人: | 苏州阿特斯阳光电力科技有限公司;常熟阿特斯阳光电力科技有限公司;阿特斯光伏电力(洛阳)有限公司;阿特斯光伏电子(常熟)有限公司;阿特斯太阳能光电(苏州)有限公司;阿特斯光伏科技(苏州)有限公司;常熟阿特斯太阳能电力有限公司 |
主分类号: | H01L31/042 | 分类号: | H01L31/042;H01L31/06 |
代理公司: | 苏州创元专利商标事务所有限公司 | 代理人: | 陶海锋 |
地址: | 215129江苏省*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 基于 硅片 黄铜矿 半导体 薄膜 异质结 太阳电池 | ||
1.一种基于N型硅片的黄铜矿类半导体薄膜异质结太阳电池,其特征在于:包括依次叠层结合的受光面电极(1)、透明导电层(6)、P型黄铜矿半导体薄膜(7)、N型晶体硅(8)、N+背表面场(9)和背金属电极(10),形成PNN+的异质结结构。
2.根据权利要求1所述的基于N型硅片的黄铜矿类半导体薄膜异质结太阳电池,其特征在于:所述受光面电极(1)为Al、Ag、Au、Ni、Cu/Ni、Al/Ni或Ti/Pd/Ag电极,其厚度为100nm~400μm。
3.根据权利要求1所述的基于N型硅片的黄铜矿类半导体薄膜异质结太阳电池,其特征在于:所述透明导电层(6)为ITO、SnO2:F(FTO)、CdSnO4、CuGaO2、CuInO2、SrCu2O2、SnO2、In2O3或掺杂的ZnO层,其厚度为80~1000nm。
4.根据权利要求1所述的基于N型硅片的黄铜矿类半导体薄膜异质结太阳电池,其特征在于:所述P型黄铜矿半导体薄膜(7)为按照ABC2的原子配比形成的化合物,其中:A为Cu、Ag中的一种元素或二种元素的组合,B为Al、Ga、In中的一种元素或多种元素的组合,C为S、Se、Te中的一种元素或多种元素的组合;其厚度为5nm~3μm,带隙为1.02~3.5eV。
5.根据权利要求1所述的基于N型硅片的黄铜矿类半导体薄膜异质结太阳电池,其特征在于:所述P型黄铜矿半导体薄膜为层叠的多层结构,按照受光顺序其带隙从3.5eV到1.02eV形成由高到低分布。
6.根据权利要求1所述的基于N型硅片的黄铜矿类半导体薄膜异质结太阳电池,其特征在于:所述N+背表面场(9)的厚度为0.1~2μm,并采用重磷掺杂,掺杂浓度为1×1018~1×1020/cm3。
7.根据权利要求1所述的基于N型硅片的黄铜矿类半导体薄膜异质结太阳电池,其特征在于:所述背金属电极(10)为Al、Ag、Au、Ni、Cu/Ni、Al/Ni或Ti/Pd/Ag电极,其厚度为100nm~400μm。
8.根据权利要求1所述的基于N型硅片的黄铜矿类半导体薄膜异质结太阳电池,其特征在于:所述N型晶体硅(8)为单晶硅、或太阳能级多晶硅,其厚度为100~350μm,掺杂浓度为1×1015~5×1017/cm3。
9.根据权利要求1所述的基于N型硅片的黄铜矿类半导体薄膜异质结太阳电池,其特征在于:在所述P型黄铜矿半导体薄膜和N型晶体硅之间还设有一层本征硅薄膜层(11),形成PINN+的异质结结构,所述本征硅薄膜层的厚度为3~50nm。
10.根据权利要求9所述的基于N型硅片的黄铜矿类半导体薄膜异质结太阳电池,其特征在于:所述本征硅薄膜层(11)的厚度为5~15nm。
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L31-00 对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射,或微粒辐射敏感的,并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或者专门适用于通过这样的辐射进行电能控制的半导体器件;专门适用于制造或处理这些半导体器件或其部件的方法或
H01L31-02 .零部件
H01L31-0248 .以其半导体本体为特征的
H01L31-04 .用作转换器件的
H01L31-08 .其中的辐射控制通过该器件的电流的,例如光敏电阻器
H01L31-12 .与如在一个共用衬底内或其上形成的,一个或多个电光源,如场致发光光源在结构上相连的,并与其电光源在电气上或光学上相耦合的