[发明专利]基于N型硅片的黄铜矿类半导体薄膜异质结太阳电池无效

专利信息
申请号: 200910183865.5 申请日: 2009-08-03
公开(公告)号: CN101621084A 公开(公告)日: 2010-01-06
发明(设计)人: 吴坚;王栩生;章灵军 申请(专利权)人: 苏州阿特斯阳光电力科技有限公司;常熟阿特斯阳光电力科技有限公司;阿特斯光伏电力(洛阳)有限公司;阿特斯光伏电子(常熟)有限公司;阿特斯太阳能光电(苏州)有限公司;阿特斯光伏科技(苏州)有限公司;常熟阿特斯太阳能电力有限公司
主分类号: H01L31/042 分类号: H01L31/042;H01L31/06
代理公司: 苏州创元专利商标事务所有限公司 代理人: 陶海锋
地址: 215129江苏省*** 国省代码: 江苏;32
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摘要:
搜索关键词: 基于 硅片 黄铜矿 半导体 薄膜 异质结 太阳电池
【权利要求书】:

1.一种基于N型硅片的黄铜矿类半导体薄膜异质结太阳电池,其特征在于:包括依次叠层结合的受光面电极(1)、透明导电层(6)、P型黄铜矿半导体薄膜(7)、N型晶体硅(8)、N+背表面场(9)和背金属电极(10),形成PNN+的异质结结构。

2.根据权利要求1所述的基于N型硅片的黄铜矿类半导体薄膜异质结太阳电池,其特征在于:所述受光面电极(1)为Al、Ag、Au、Ni、Cu/Ni、Al/Ni或Ti/Pd/Ag电极,其厚度为100nm~400μm。

3.根据权利要求1所述的基于N型硅片的黄铜矿类半导体薄膜异质结太阳电池,其特征在于:所述透明导电层(6)为ITO、SnO2:F(FTO)、CdSnO4、CuGaO2、CuInO2、SrCu2O2、SnO2、In2O3或掺杂的ZnO层,其厚度为80~1000nm。

4.根据权利要求1所述的基于N型硅片的黄铜矿类半导体薄膜异质结太阳电池,其特征在于:所述P型黄铜矿半导体薄膜(7)为按照ABC2的原子配比形成的化合物,其中:A为Cu、Ag中的一种元素或二种元素的组合,B为Al、Ga、In中的一种元素或多种元素的组合,C为S、Se、Te中的一种元素或多种元素的组合;其厚度为5nm~3μm,带隙为1.02~3.5eV。

5.根据权利要求1所述的基于N型硅片的黄铜矿类半导体薄膜异质结太阳电池,其特征在于:所述P型黄铜矿半导体薄膜为层叠的多层结构,按照受光顺序其带隙从3.5eV到1.02eV形成由高到低分布。

6.根据权利要求1所述的基于N型硅片的黄铜矿类半导体薄膜异质结太阳电池,其特征在于:所述N+背表面场(9)的厚度为0.1~2μm,并采用重磷掺杂,掺杂浓度为1×1018~1×1020/cm3

7.根据权利要求1所述的基于N型硅片的黄铜矿类半导体薄膜异质结太阳电池,其特征在于:所述背金属电极(10)为Al、Ag、Au、Ni、Cu/Ni、Al/Ni或Ti/Pd/Ag电极,其厚度为100nm~400μm。

8.根据权利要求1所述的基于N型硅片的黄铜矿类半导体薄膜异质结太阳电池,其特征在于:所述N型晶体硅(8)为单晶硅、或太阳能级多晶硅,其厚度为100~350μm,掺杂浓度为1×1015~5×1017/cm3

9.根据权利要求1所述的基于N型硅片的黄铜矿类半导体薄膜异质结太阳电池,其特征在于:在所述P型黄铜矿半导体薄膜和N型晶体硅之间还设有一层本征硅薄膜层(11),形成PINN+的异质结结构,所述本征硅薄膜层的厚度为3~50nm。

10.根据权利要求9所述的基于N型硅片的黄铜矿类半导体薄膜异质结太阳电池,其特征在于:所述本征硅薄膜层(11)的厚度为5~15nm。

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