[发明专利]射频屏蔽测试座以及采用该射频屏蔽测试座的测试机台

说明书

技术领域

本发明属于半导体自动化检测技术领域，尤其涉及一种射频屏蔽测试座以及采用该射频屏蔽测试座的测试机台。

背景技术

从手机、无线网络卡到蓝芽耳机设备等，只要是需要发射、接收信号的装置，几乎都用得到射频集成电路芯片(RF IC)，现阶段对于射频集成电路芯片的测试需求逐步增温。目前传统用来测试IC的自动化测试机台，大致可分为由测试座提供仿真信号，获取各输出脚位输出信号的仿真测试；以及提供实际功能性电路板与周边，空出待测IC位置，将待测IC置入实际使用环境中运作的实境测试。

以目前业界多实行的是符合使用环境的实境测试，也就是单独留下待测IC的空缺，让受测IC填补受测位置，并以实际机台依照使用状态进行测试，可轻易获得该待测IC在实际使用环境下的反应状态，并得知该待测IC是否可供实际装机，亦可称之为系统级测试。举例来说，若所欲测量的IC将应用于手机，上述实境测试的测试电路板即为手机电路板，若所测IC为网络卡用的IC，即可以网络卡作为测试电路板，无论何种卡，多为市面上常见或已为厂商所具备，因此实境测试的环境营造不存在困难。

一般简易的射频IC测试装置，多采用人工置换待测物的方式，测试速度缓慢，且在封闭空间中对待测物进行测试作业，不但耗费人力，且测试效率以及测试结果均有人为因素参杂，较难如实反应实际的测试结果。另外，业界目前对待测物所采用的自动化测试机台，则未见有针对测试时射频干扰提出有效的解决方案，在多测试埠平行检测时，对邻近的待测物将产生干扰。

发明内容

本发明的目的在于提供一种射频屏蔽测试座以及采用该射频屏蔽测试座的测试机台，旨在解决半导体IC测试时射频干扰以及测试效率的问题。

本发明是这样实现的，一种射频屏蔽测试座，所述射频屏蔽测试座在测试待测物时，限制测试所产生的射频电磁渗透至外部空间，所述的射频屏蔽测试座包括：

一个支撑板；

一设置在所述支撑板上的测试板，所述测试板上方设有一个供待测物插置的测试座体；

一个用以阻隔射频、在所述支撑板上形成测试空间的上罩体，所述上罩体上方开设有一可供待测物进出的开口；以及

一组用于将待测物压置于所述测试座体的测试手臂，所述测试手臂具有在待测物压置于所述测试座体时将所述开口封闭的抵压部。

更具体的，所述测试手臂用来吸附所述待测物以一预定路径行程自所述开口进入所述上罩体内。

更具体的，所述测试板为测试所述待测物的测试公板。

更具体的，所述上罩体为金属材料制作而成。

更具体的，所述上罩体以导电镀层方式涂覆，以阻隔射频。

更具体的，所述上罩体还设置有至少一个导引柱，所述导引柱在所述待测物以一预定路径行程自所述开口进入所述上罩体内时，对所述测试手臂进行对位导引。

更具体的，所述上罩体与所述支撑板的接合处具有一弯折，以隔离射频电磁。

更具体的，所述上罩体与所述支撑板的接合处环设有一组吸波材料，以隔离射频电磁。

本发明还提供了一种具有射频屏蔽测试座的测试机台，用于对待测物进行功能性自动化测试，其特征在于，所述测试机台包括：

一进料区，用以摆放具有复数待测物的载盘；

一出料区，用以摆放具有复数完测待测物的载盘；

一组拾取臂，用以将所述进料区载盘中的测试物搬移至所述射频屏蔽测试座和将所述射频屏蔽测试座中的测试物搬移至所述出料区载盘中；以及

复数组射频屏蔽测试座，各射频屏蔽测试座包括：

一个支撑板；

一设置在所述支撑板上的测试板，所述测试板上方设有一个供待测物插置的测试座体；

一个用以阻隔射频、在所述支撑板上形成测试空间的上罩体，所述上罩体上方开设有一可供待测物进出的开口；以及

一组用于将待测物压置于所述测试座体的测试手臂，所述测试手臂具有在待测物压置于所述测试座体时将所述开口封闭的抵压部。

更具体的，所述测试机台还包括具有一预定位置的输送装置，所述输送装置用以将所述待测物自所述预定位置运送至待测位置。

更具体的，所述测试板为测试所述待测物的测试公板。

更具体的，所述上罩体为金属材料制作而成。

更具体的，所述上罩体以导电镀层方式涂覆，以阻隔射频。