[发明专利]薄膜材料泊松比及杨氏弹性模量的几何测量法

权利要求书

1.一种薄膜材料泊松比及杨氏弹性模量的几何测量法，其特征在于，包括下述步骤：

1)将待检测的薄膜材料周边夹紧，使其形成半径为a的周边夹紧的圆薄膜，在圆薄膜上施加均布载荷q；

2)测出圆薄膜上任意两点的挠度值 和 其中0≤λ_i＜1，i＝1，2；

3)计算两点的挠度值之比

根据公式

其中，v为薄膜的泊松比，E为薄膜的杨氏弹性模量，a为圆薄膜半径，q为圆薄膜上施加的均布载荷，h为薄膜的厚度，λ取λ₁或者λ₂，各个量的单位采用国际单位制，系数c由下式决定

以上表达式中的两个函数f(x)和g(x)分别为

将k值代入以上公式中，则可求得薄膜的泊松比v及杨氏弹性模量E。

2.根据权利要求1所述的薄膜材料泊松比及杨氏弹性模量的几何测量法，其特征在于：所述两点为r＝0和r＝0.5a，测量这两点的挠度值w(r)|_r＝0和w(r)|_r＝0.5a。