[发明专利]一种基于亥姆霍兹线圈的电导率无损测量系统无效
申请号: | 200910191452.1 | 申请日: | 2009-11-11 |
公开(公告)号: | CN101718735A | 公开(公告)日: | 2010-06-02 |
发明(设计)人: | 何为;罗海军;徐征;李冰;王俊锋;李倩 | 申请(专利权)人: | 重庆大学 |
主分类号: | G01N27/20 | 分类号: | G01N27/20 |
代理公司: | 重庆市恒信知识产权代理有限公司 50102 | 代理人: | 刘小红 |
地址: | 400044 *** | 国省代码: | 重庆;85 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 基于 亥姆霍兹线圈 电导率 无损 测量 系统 | ||
技术领域
本发明涉及电导率的测量技术,具体是一种可用于医学影像诊断或工 业探伤的基于亥姆霍兹线圈的电导率无损测量系统。
技术背景
检测产品技术的好坏和物体内部的异常变化有很多方法,但归纳起来 不外乎是二大类:其一是破坏法,其二是无损检测法。破坏法即是破 开被检对象,检查其内部或表面质量的方法。虽然这种方法准确性很 高,比较直观;但是在大多数情况下是行不通的:进行生产制造的目 的,就是为了得到成品,不可能为了检查其质量的好坏,就做一个破 坏一个;大部分被测物体不允许分解和破坏,如人体病变组织。
为了得到合格的成品和无创的检测,就必须谋求与破坏法完全相反的 方法,这就是无损检测法。无损检测技术广义来讲,是指在不损坏被 检对象的前提下,测定其有关参数的技术及其方法。例如:测量温度 、压力粘度、流速、磁场强度等都属于无损检测范畴。无损检测技术 (Nondestructive Determination Technology,简称NDT)是在不损 伤被检测对象的条件下,利用材料内部结构异常或缺陷存在所引起的 对热、声、光、电、磁等反应的变化,来探测各种工程材料、零部件 、结构件、生物组织等内部和表面缺陷,并对缺陷的类型、性质、数 量、形状、位置、尺寸、分布及其变化做出判断和评价。
在被测物体内部电导率分布不同时,可以通过不同电导率诱导的涡流 强度不同的机理,检测涡流产生的磁场强度对应不同电导率分布。涡 流检测是利用电磁感应原理,通过测定被物体内感生涡流的变化来无 损地评定导电材料及其工件的某些性能,或发现缺陷的无损检测方法 。当线圈流过高频交变电流时会在其中产生交变磁场,如果该磁场靠 近有电导率的物体,则在物体中能感应出电流,简称涡流。涡流的大 小与物体的导电性、导磁性、几何尺 寸及其中的缺陷形态有关。涡流本身也会产生磁场,其强度取决于涡 流的大小,其方向与线圈电流磁场相反,通过检测线圈将涡流磁场转 换成电压信号。
现有的测量系统激励系统采用单边的一个激励线圈,磁场强度很快衰 减,导致灵敏度不高,测量深度浅;磁场不均匀,导致定位、分辨率 受限制。
发明的内容
本发明的目的是提供一种精度高、定位好、分辨率高及测量深度比较 深的基于亥姆霍兹线圈的电导率无损测量系统。
为实现上述目的而采用的技术方案是这样的,即一种基于亥姆霍兹线 圈的电导率无损测量系统,包括:亥姆霍兹线圈、检测线圈、抵消电 路、锁相放大器、控制器及电源,其中:
1)、由亥姆霍兹线圈建立时变均匀磁场B;
2)、在上述时变均匀磁场内设置一个或绕被测物体环形间隔布置的若 干能切割磁力线的检测线圈;
3)、由锁相放大器的OSC输出端输出的正弦信号,信号经过功率放大 器向亥姆霍兹线圈提供激励电流;
4)、上述检测线圈的输出信号分别通过前置信号处理幅模块与多路选 择器连接;所述前置信号处理幅模块由差分放大器Ⅰ、调整幅值Ⅰ和 移相电路串联构成;多路选择器接收来自控制器的控制信号,其当前 信号输出端与抵消电路模块的检测信号输入端连接;所述亥姆霍兹线 圈的另一端通过采样电阻接地,采样电阻产生的电压通过输出端与所 述抵消电路模块的基准信号输入端连接;抵消电路模块的正弦信号输 出端连接锁相放大器的信号输入端。
5)、所述控制器通过RS232接口与锁相放大器的RS232接口进行数据交 换,控制器通过IO口向多路选择器提供控制信号,其中每个传感器通 道具有唯一的编码;控制器通过USB接口与上位机进行数据交换,将包 括通道序号,信号幅值及信号相位的数据传给上位机。
上述电源模块输入市电,输出三组直流电源,其中+5V地线-5V这组给 前置信号处理幅模块、多路选择器及抵消电路模块供电;+15V地线-1 5V这组给功率放大器供电;+5V地线这组给控制器供电。锁相放大器的 供电由市电提供。
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