[发明专利]红外焦平面封装窗口的金属化方法无效
申请号: | 200910194864.0 | 申请日: | 2009-08-31 |
公开(公告)号: | CN102002672A | 公开(公告)日: | 2011-04-06 |
发明(设计)人: | 周东平;赵培 | 申请(专利权)人: | 上海欧菲尔光电技术有限公司 |
主分类号: | C23C14/24 | 分类号: | C23C14/24;C23C14/14;C23C14/16 |
代理公司: | 上海科盛知识产权代理有限公司 31225 | 代理人: | 杨元焱 |
地址: | 200434 *** | 国省代码: | 上海;31 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 红外 平面 封装 窗口 金属化 方法 | ||
1.一种红外焦平面封装窗口的金属化方法,在红外窗口基片上实施,其特征在于:将基片中间的红外薄膜区用掩膜覆盖,四周作为金属化区,置于蒸发设备中;在蒸发设备中装入离子能量低、离子密度高的离子源实现离子辅助,按以下步骤进行金属化:
a、利用离子源清洁基片;
b、在基片的金属化区上蒸镀一层Cr或Ti作为铆定层;
c、在铆定层上蒸镀一层Ni、Pt或Pd作为阻隔层;
d、在阻隔层上蒸镀一层Au作为焊接层。
2.如权利要求1所述的红外焦平面封装窗口的金属化方法,其特征在于:所述的离子源是由纯度99.9%~99.999%的Ar气产生的Ar离子源,离子源功率为60W~1200W,通气量为5~35sccm,工作压强为0.008~0.05Pa。
3.如权利要求1所述的红外焦平面封装窗口的金属化方法,其特征在于:所述的铆定层的沉积速率控制在0.1~2nm/s,阻隔层的沉积速率控制在0.2~2nm/s,焊接层的沉积速率控制在0.1~5nm/s。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于上海欧菲尔光电技术有限公司,未经上海欧菲尔光电技术有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/200910194864.0/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:湿平整液组合物及其用途
- 下一篇:一种高强度耐磨钢板及其制备方法
- 同类专利
- 专利分类