[发明专利]红外焦平面封装窗口的金属化方法无效

专利信息
申请号: 200910194864.0 申请日: 2009-08-31
公开(公告)号: CN102002672A 公开(公告)日: 2011-04-06
发明(设计)人: 周东平;赵培 申请(专利权)人: 上海欧菲尔光电技术有限公司
主分类号: C23C14/24 分类号: C23C14/24;C23C14/14;C23C14/16
代理公司: 上海科盛知识产权代理有限公司 31225 代理人: 杨元焱
地址: 200434 *** 国省代码: 上海;31
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摘要:
搜索关键词: 红外 平面 封装 窗口 金属化 方法
【权利要求书】:

1.一种红外焦平面封装窗口的金属化方法,在红外窗口基片上实施,其特征在于:将基片中间的红外薄膜区用掩膜覆盖,四周作为金属化区,置于蒸发设备中;在蒸发设备中装入离子能量低、离子密度高的离子源实现离子辅助,按以下步骤进行金属化:

a、利用离子源清洁基片;

b、在基片的金属化区上蒸镀一层Cr或Ti作为铆定层;

c、在铆定层上蒸镀一层Ni、Pt或Pd作为阻隔层;

d、在阻隔层上蒸镀一层Au作为焊接层。

2.如权利要求1所述的红外焦平面封装窗口的金属化方法,其特征在于:所述的离子源是由纯度99.9%~99.999%的Ar气产生的Ar离子源,离子源功率为60W~1200W,通气量为5~35sccm,工作压强为0.008~0.05Pa。

3.如权利要求1所述的红外焦平面封装窗口的金属化方法,其特征在于:所述的铆定层的沉积速率控制在0.1~2nm/s,阻隔层的沉积速率控制在0.2~2nm/s,焊接层的沉积速率控制在0.1~5nm/s。

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