[发明专利]基于亮度衰减拟合预测真空荧光显示器寿命的方法有效

专利信息
申请号: 200910195206.3 申请日: 2009-09-07
公开(公告)号: CN101666705A 公开(公告)日: 2010-03-10
发明(设计)人: 张建平 申请(专利权)人: 上海电力学院
主分类号: G01M11/00 分类号: G01M11/00
代理公司: 上海申汇专利代理有限公司 代理人: 吴宝根
地址: 200090上*** 国省代码: 上海;31
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摘要:
搜索关键词: 基于 亮度 衰减 拟合 预测 真空 荧光 显示器 寿命 方法
【说明书】:

技术领域

发明涉及一种推算方法,特别涉及一种基于亮度衰减拟合预测真空荧光显示器寿命的方法。

背景技术

真空荧光显示器(Vacuum Fluorescent Display,简称VFD)是一种高可靠、长寿命的电子产品,在电子和电气设备的显示方面得到广泛使用。在其加速参数β已经确定的条件下,可以通过记录其加速寿命试验样品的失效时间、采用极大似然法估计威布尔参数的方法来预测VFD平均寿命。实际上,也可以通过VFD平均亮度的衰减,采用威布尔曲线拟合的方法来实现寿命的预测。此方法对VFD的寿命预测和初始亮度设计具有指导意义。

发明内容

本发明是针对真空荧光显示器设计时需要预测寿命的问题,提出了一种基于亮度衰减拟合预测真空荧光显示器寿命的方法,只需做一个灯丝温度应力为T(973.15K≤T≤1123.15K,建议灯丝温度接近最高温度应力)的加速寿命试验,收集平均亮度随时间变化的试验数据,利用此数据拟合出VFD平均亮度衰减变化的曲线公式,即可根据失效时的亮度标准求出VFD的平均寿命。并可根据设计之初客户所要求的寿命来确定VFD的初始亮度。

本发明的技术方案为:一种基于亮度衰减拟合预测真空荧光显示器寿命的方法,所述方法包括如下步骤:

1)采集试验数据:n个试验样品在加速温度应力T条件下,其ti(i=1,2,...,N)时刻的亮度分别为Lk(ti)(k=1,2,...,n),则ti时刻n个试验样品的平均亮度为:L(ti)=1nΣk=1nLk(ti),]]>便可得到n个试验样品的平均亮度数据(ti,L(ti))(i=1,2,...,N);

2)用威布尔分布来描述真空荧光显示器的亮度衰减:真空荧光显示器的亮度衰减公式可由威布尔函数来表示L(t)=L0exp{-(tη)m},]]>式中:L0为产品的初始亮度,L(t)为产品在t时刻的平均亮度,m为形状参数,η为尺度参数;

3)采用最小二乘法对步骤2)中形状参数m和尺度参数η进行参数估计;

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