[发明专利]一种利用紫外激光拉曼荧光联合光谱的防伪方法和系统无效
申请号: | 200910195286.2 | 申请日: | 2009-09-07 |
公开(公告)号: | CN102012371A | 公开(公告)日: | 2011-04-13 |
发明(设计)人: | 龚辉;丁雪梅;袁永恒 | 申请(专利权)人: | 上海镭立激光科技有限公司 |
主分类号: | G01N21/65 | 分类号: | G01N21/65;G01N21/64;G06F17/30 |
代理公司: | 上海世贸专利代理有限责任公司 31128 | 代理人: | 严新德 |
地址: | 201203 上海市浦东*** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 利用 紫外 激光 荧光 联合 光谱 防伪 方法 系统 | ||
1.一种利用紫外激光拉曼荧光联合光谱的防伪方法,包括一个测量样品材料的拉曼光谱和荧光光谱的步骤,其特征在于:在所述的测量样品材料的拉曼光谱和荧光光谱的步骤中,利用紫外激光照射样品同时利用光谱仪探测样品的荧光激发光谱和拉曼光谱,在测量样品材料的拉曼光谱和荧光光谱的步骤完成之后,将取得的样品材料的拉曼光谱和荧光光谱与一个产品材料紫外激光诱导拉曼和荧光光谱联合网络数据库中的同一类别产品材料图谱进行比对,最终判断被测材料的真伪。
2.如权利要求1所述的利用紫外激光拉曼荧光联合光谱的防伪方法,其特征在于:所述的产品材料紫外激光诱导拉曼和荧光光谱联合网络数据库是产品材料紫外激光拉曼和荧光联合光谱数据的集合,是综合各类产品材料光谱数据形成的数据集合,是存放光谱数据的仓库。
3.如权利要求1所述的利用紫外激光拉曼荧光联合光谱的防伪方法,其特征在于:所述的比对是采用特征比对法、特征接合法、几何构图法、重叠比对和综合比对的方法。
4.如权利要求1所述的利用紫外激光拉曼荧光联合光谱的防伪方法,其特征在于:在测量样品材料的拉曼光谱和荧光光谱的步骤完成之后,利用智能手机或者计算机采集上述光谱数据,然后通过网络传输到一个中心服务器,在所述的中心服务器中将上述光谱与所述的产品材料紫外激光诱导拉曼和荧光联合光谱网络数据库中同一类别产品材料相应光谱进行比对,然后将比对结果通过网络回传给智能手机或者计算机。
5.如权利要求1所述的利用紫外激光拉曼荧光联合光谱的防伪方法,其特征在于:在测量样品材料的拉曼光谱和荧光光谱的步骤中,所述的紫外激光的波长在200~300nm之间,峰值功率大于1KW。
6.如权利要求1所述的利用紫外激光拉曼荧光联合光谱的防伪方法,其特征在于:在测量样品材料的拉曼光谱和荧光光谱的步骤之前,对样品材料的表面进行激光清洗。
7.一种实现如权利要求1所述的利用紫外激光拉曼荧光联合光谱的防伪方法的系统,由激光器、光学聚焦透镜、样品室、光学准直采集透镜、紫外滤光片、可见光滤光片、光纤耦合聚焦透镜、光纤、光谱仪、智能手机或计算机、中心服务器和产品材料紫外激光诱导拉曼和荧光联合光谱网络数据库构成,其特征在于:所述的光学聚焦透镜和样品室均设置在所述的激光器的激光出射光路中,所述的光学聚焦透镜设置在激光器与样品室之间,所述的光学准直采集透镜和光纤耦合聚焦透镜设置在与样品室的激发光路相交的位置上,光学准直采集透镜和光纤耦合聚焦透镜相互平行和对中,所述的紫外滤光片固定设置在光学准直采集透镜和光纤耦合聚焦透镜之间,紫外滤光片与光学准直采集透镜和光纤耦合聚焦透镜相互平行和对中,所述的可见光滤光片设置在紫外滤光片和光纤耦合聚焦透镜之间的一个运动位置上,所述的光纤的一端设置在光纤耦合聚焦透镜的焦点处,光纤的另一端设置在所述的光谱仪的输入端,光谱仪的输出端与所述的智能手机或计算机连接,智能手机或计算机通过网络与所述的中心服务器连接,中心服务器与所述的产品材料紫外激光诱导拉曼和荧光联合光谱网络数据库连接。
8.如权利要求6所述的利用紫外激光拉曼荧光联合光谱的防伪系统,其特征在于:所述的激光器和光谱仪均与一个充电式锂电池连接。
9.如权利要求6所述的利用紫外激光拉曼荧光联合光谱的防伪系统,其特征在于:所述的激光器和光谱仪的控制接口均与智能手机或计算机连接。
10.如权利要求6所述的利用紫外激光拉曼荧光联合光谱的防伪系统,其特征在于:所述的激光器是微片激光器,所述的微片激光器中设置有激光谐波变换系统。
11.如权利要求6所述的利用紫外激光拉曼荧光联合光谱的防伪系统,其特征在于:利用所述的紫外滤光片滤去紫外激光本身激光波长,消除它对拉曼和荧光光谱测量的影响。
12.如权利要求6所述的利用紫外激光拉曼荧光联合光谱的防伪系统,其特征在于:利用所述的可见光滤光片滤去在测量紫外激光拉曼光谱时所产生的荧光干扰。
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