[发明专利]液晶显示装置的阵列基板

说明书

技术领域

本发明涉及液晶显示技术领域，特别涉及液晶显示装置的阵列基板。

背景技术

平板显示器，例如液晶显示装置(LCD)由于具备轻薄、省电、无辐射等优点而逐渐取代阴极射线管(CRT)显示器，成为显示器发展的主流趋势。

通常，液晶显示装置包括用于显示画面的液晶显示面板和用于向所述液晶显示面板提供驱动信号的驱动电路模块，所述液晶显示面板通常包括阵列基板和滤色片基板，它们彼此粘接在一起并通过液晶间隙(CELL GAP)彼此间隔开，而液晶材料注入到所述薄膜晶体管阵列基板和滤色片基板之间的CELL GAP中。

液晶显示装置的阵列基板包括：玻璃基板，形成在所述玻璃基板上的多条扫描线和多条数据线，由扫描线和数据线的相互交叉而限定出的多个像素区域，设置在相应的每个像素区域中的像素电极，和与每个像素电极连接的薄膜晶体管(Thin Film Transistor，TFT)；其中，多条扫描线以固定的间隔彼此分开并沿着第一方向延伸，而多条数据线以固定的间隔彼此分开并且沿着基本上垂直于第一方向的第二方向延伸；所述薄膜晶体管能够响应提供给相应的每条扫描线的信号并将来自数据线的信号发送给对应的每个像素电极。

在液晶显示装置的制造过程中，为了节省成本及有效的控制良率，在向液晶显示面板上安装驱动电路模块之前，需要对阵列基板进行电性测试(CellVisual Test)，以检出不能正常工作的阵列基板，从而在后续工艺前及时的排除不良产品，以此来节约生产成本。

目前的一种阵列基板的检测方法是用若干短路棒(Shorting Bar)分别将各信号线(数据线或扫描线)短路连接在一起，再通过所述短路棒向薄膜晶体管阵列输入测试信号，测试完成后用激光将短路棒与各信号线的连接切断，以便进行下一步的驱动电路模块组装。短路棒的另一作用是避免静电放电(Electrostatic Discharge，ESD)对TFT器件的破坏。

图1显示了现有的短路棒与信号线连接的一种结构，数据线1005-1、1005-2、1005-3分别表示红色信号(R)数据线、绿色信号(G)数据线、蓝色信号(B)数据线。短路棒与数据线交叉排列，短路棒和数据线位于不同的电路层，可以通过过孔连接，具体来说，短路棒的过孔与数据线的过孔通过连接金属连接，使短路棒1001、1002、1003分别与数据线1005-1、1005-2、1005-3短路连接，例如，短路棒1001的过孔1000-1与数据线1005-1的过孔1001-2通过连接金属1006连接，使短路棒1001与数据线1005-1短路连接，连接金属一般为氧化铟锡(ITO)或者氧化铟锌(IZO)。可视化测试端子(visual test pad)1007-1、1007-2、1007-3分别与短路棒1001、1002、1003相连。类似地，短路棒还可以与扫描线短路连接。通过给可视化测试端子(Visual Test Pad)1007-1、1007-2、1007-3加上电测信号(例如电压)，就能进行电性测试。整个图1的结构表面被一层或者两层透明的绝缘层覆盖(图中未示出)，过孔处除外，绝缘层一般为氮化硅或氧化硅。

然而，在制造工艺过程中，例如阵列工艺取放玻璃、制盒工工艺的取向膜涂布以及取向膜摩擦工序，由于静电过大容易将过孔处的ITO或者IZO烧毁，例如图2的短路棒与信号线交叠处的电子显微镜照片所示，这种过孔缺陷不仅使短路棒的防静电功能失效，而且导致电测信号不能通过信号线输入TFT器件中，电性测试不能进行，就会认为阵列基板出现不良现象，例如信号线的线缺陷，由于在实际测试时无法确定是因过孔损坏造成的线缺陷，为避免阵列基板留到下一制造流程可能导致材料的浪费，因此产品会作报废处理。

同样地，在短路棒出现线缺陷，例如短路棒的一处或者多处断路而导致电性测试不能进行，也会认为阵列基板出现不良现象，例如一条或多条信号线的线缺陷，产品必须报废。

因此，对于上述短路棒与信号线的连接结构，在短路棒出现缺陷(过孔缺陷或线缺陷)时，不能有效地检测阵列基板是否合格，并且，产品会因短路棒的缺陷而报废。

发明内容

本发明解决现有技术由于短路棒缺陷而导致不能有效检测阵列基板是否合格的问题。

为解决上述问题，本发明实施方式提供一种液晶显示装置的阵列基板，包括：基板，形成在所述基板上的多条信号线，以及形成在所述基板上的多条与所述信号线交叉排列的短路棒，所述各条信号线与至少两条短路棒连接。

可选的，所述信号线为扫描线或数据线。