[发明专利]一种静电放电保护电路有效
申请号: | 200910196869.7 | 申请日: | 2009-09-27 |
公开(公告)号: | CN102034809A | 公开(公告)日: | 2011-04-27 |
发明(设计)人: | 单毅 | 申请(专利权)人: | 上海宏力半导体制造有限公司 |
主分类号: | H01L27/02 | 分类号: | H01L27/02;H01L23/60;H02H9/00 |
代理公司: | 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 | 代理人: | 李丽 |
地址: | 201203 上海市浦*** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 静电 放电 保护 电路 | ||
技术领域
本发明涉及静电放电保护技术领域,特别设计一种静电放电保护电路。
背景技术
参见图1,该图为现有技术中一种输入输出单元的输出驱动电路和静电放电(ESD,Electro Static Discharge)保护电路结构图。
P1和P2是PMOS管,N1和N2是NMOS管。P1和N1组成的电路既可以作为ESD保护电路,又可以作为输入输出单元的输出驱动电路,从图1可以看出,左边的P1和N1组成的电路是作为ESD保护电路。右边的P2和N2组成的电路是作为输入输出单元的输出驱动电路。
ESD保护电路和输入输出单元的输出驱动电路的区别仅是PMOS管和NMOS管的栅极连接的位置不同。
由于该结构的ESD保护电路是由单纯的MOS管做的保护,由于MOS管单位尺寸的保护能力较差。因此,一般采用SCR管做ESD保护。因为,SCR管的单位尺寸保护能力比MOS管好。但是,单纯用SCR管做ESD保护电路也存在缺点。下面结合图2来详细说明。
参见图2,该图现有技术中为SCR管的ESD保护电路的结构示意图。
当阳极加上正的ESD脉冲时,只有ESD电压高到一定的值,PWELL和NWELL组成的PN结才能发生反向击穿,产生一个流向PWELL的漏电流。该漏电流流过电阻Rpwell,使得T2的基极-发射极正偏,T2导通。从而T2的集电极有电流流过,此电流流过电阻Rnwell,使得T1的基极-发射极正偏,T1导通。因此整个SCR就可以导通了。可见,SCR需要触发,就需要PWELL和NWELL组成的PN结发生反向击穿,此击穿电压很高,所以SCR的触发电压很高。
当阳极加上负的ESD脉冲时,PWELL和NWELL形成一个正偏的二极管,电流直接通过二极管从阴极流到阳极,二极管导通电压很低,不存在类似SCR触发电压高的问题。
综上所述,SCR的触发电压取决于PWELL和NWELL组成的PN结发生反向击穿时加在阳极的电压,这个电压需要很高,不能为内部电路提供有效的ESD保护。
发明内容
本发明解决的问题是提供一种ESD保护电路,能够提高ESD保护电路的保护能力,同时降低触发电压。
为解决上述问题,本发明提供一种静电放电保护电路,包括:在PMOS管周围设置N-well接触,在NMOS管周围设置P-well接触,在所述N-well接触和所述P-well接触之间依次插入一条P+和一条N+,所述N-well接触、一条P+、一条N+和P-well接触形成SCR管。
优选地,所述PMOS管的源极连接VDD,漏极连接PAD焊盘;所述NMOS管的漏极连接PAD焊盘,源极连接GND;所述SCR管的N-well接触连接VDD,P+连接VDD,N+连接GND,P-well接触连接GND。
优选地,所述PMOS管的栅极连接VDD,所述NMOS管的栅极连接GND。
与现有技术相比,本发明具有以下优点:
本发明实施例提供的ESD保护电路,通过在现有的PMOS管和NMOS管的结构中间依次插入一条P+和一条N+,正好依据N-well接触和P-well接触形成SCR,由于SCR单位尺寸的ESD保护能力比MOS管好。并且该电路结构的NMOS管的漏极-栅极交界处的栅二极管的反向击穿电压比较低,所以漏极有ESD脉冲时,能够在较低电压下就反向击穿产生漏电流,使得SCR的T2的基极-发射极正偏,T2导通。与现有技术相比,本发明实施例提供的ESD保护电路能够在较低电压时就提供足够SCR触发电流,因此本发明实施例中的ESD保护电路的触发电压低,而一旦SCR能够触发,其保护能力比单纯的MOS管的保护能力要强很多。
附图说明
图1是现有技术中一种输入输出单元的输出驱动电路和ESD保护电路示意图;
图2是现有技术中SCR管的ESD保护电路的截面图;
图3是本发明ESD保护电路的版图;
图4是本发明图3 ESD保护电路对应的结构示意图;
图5是本发明提供的一种ESD保护电路和输入输出单元的输出驱动电路示意图。
具体实施方式
为使本发明的上述目的、特征和优点能够更加明显易懂,下面结合附图对本发明的具体实施方式做详细的说明。
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