[发明专利]PCIe测试平台无效

专利信息
申请号: 200910196996.7 申请日: 2009-10-13
公开(公告)号: CN102043748A 公开(公告)日: 2011-05-04
发明(设计)人: 黄永勤;陈晖;喻尊河;李湛;刘红云;祝亚斌;钟蔚杰 申请(专利权)人: 无锡江南计算技术研究所
主分类号: G06F13/40 分类号: G06F13/40;G01R31/00
代理公司: 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 代理人: 李丽
地址: 214083 江苏*** 国省代码: 江苏;32
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摘要:
搜索关键词: pcie 测试 平台
【说明书】:

技术领域

本发明涉及电子设备测试技术领域,特别涉及一种PCIe测试平台。

背景技术

目前,在电路技术领域,通常利用测试平台对电子设备进行测试。图1所示为现有的一种PCIe测试平台,其包括主机10、与主机10相连的PCIe插槽20或者PCIe连接器30。测试时,将待测试设备连接在PCIe插槽20或者PCIe连接器30上,主机10通过PCIe电缆和PCIe插槽20上的待测试设备成功建立PCIe链路后,测试人员便可对待测PCIe设备进行检测操作。例如,向待测试设备发送PCIe数据,然后利用待测试设备向主机返回的PCIe数据来判断待检测设备。

例如在专利申请号为“20052005372.6”的中国专利申请中公开了一种通讯设备单板测试平台。

但是现有的PCIe测试平台通常将主机、PCIe插槽和PCIe接口安装在PCB板上,因此PCIe插槽和PCIe接口的数目受到限制,使得PCIe平台的测试能力受到限制,另外由于主机、PCIe插槽和PCIe接口都集成在PCB板上,因此如果对待测试电子设备进行测试必须将待检测设备搬到PCB板附近,这样为测试平台的应用带来不便。

发明内容

本发明解决的技术问题是提供一种使用更方便的PCIe测试平台。

为了解决上述问题,本发明提供了一种PCIe测试平台,包括:

第一主机;

第二主机;

测试板,所述测试板包括位于在所述测试板上的PCIe插座,与PCIe插座相连的PCIe交换单元,与PCIe交换单元相连的PCIe插槽和PCIe连接器,所述测试板上的PCIe插座和第一主机以及第二主机相连。

与现有技术相比,本发明主要具有以下优点:本发明通过将PCIe插座,与PCIe插座相连的PCIe交换单元,与PCIe交换单元相连的PCIe插槽和PCIe连接器设置于测试板上,并且测试板与第一主机和第二主机分离并且连接,从而使得测试平台测试接口得到扩展,从而使该测试平台可以应用于远距离的测试,并且可以通过扩展测试板或者扩展测试板上的PCIe插槽和PCIe连接器使测试平台的测试能力更强。

附图说明

通过附图中所示的本发明的优选实施例的更具体说明,本发明的上述及其它目的、特征和优势将更加清晰。在全部附图中相同的附图标记指示相同的部分。并未刻意按实际尺寸等比例缩放绘制附图,重点在于示出本发明的主旨。

图1为现有的一种PCIe测试平台的结构示意图;

图2为本发明的PCIe测试平台一实施例的结构示意图;

图3为本发明的PCIe测试平台一优选实施方式的结构示意图。

具体实施方式

由背景技术可知,现有的PCIe测试平台通常将主机10、PCIe插槽20和PCIe连接器30,PCIe插槽20和PCIe连接器30安装在主机10上,因此PCIe插槽20和PCIe连接器30数目受到限制,使得PCIe平台的测试能力受到限制,另外由于主机、PCIe插槽20和PCIe连接器30都集成在主机10上,因此如果对待测试电子设备进行测试必须将待检测设备搬到主机10附近,这样为测试平台的应用带来不便。

本发明的发明人经过大量的实验研究得到了一种PCIe测试平台,包括:第一主机;第二主机;测试板,所述测试板包括位于在所述测试板上的PCIe插座,与PCIe插座相连的PCIe交换单元,与PCIe交换单元相连的PCIe插槽和PCIe连接器,所述测试板上的PCIe插座和第一主机以及第二主机相连。本发明可以连接更多的待检测设备,因此可以实现同时对更多的待检测设备进行检测,提高了测试平台的利用率,并且可以实现远距离的测试。

为使本发明的上述目的、特征和优点能够更加明显易懂,下面结合附图对本发明的具体实施方式做详细的说明。在下面的描述中阐述了很多具体细节以便于充分理解本发明。但是本发明能够以很多不同于在此描述的其它方式来实施,本领域技术人员可以在不违背本发明内涵的情况下做类似推广,因此本发明不受下面公开的具体实施的限制。

其次,本发明利用示意图进行详细描述,在详述本发明实施例时,为便于说明,表示器件结构的剖面图会不依一般比例作局部放大,而且所述示意图只是实例,其在此不应限制本发明保护的范围。此外,在实际制作中应包含长度、宽度及深度的三维空间尺寸。

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