[发明专利]一种绒面掺杂氧化锌透明导电薄膜的制备方法无效
申请号: | 200910197099.8 | 申请日: | 2009-10-13 |
公开(公告)号: | CN101692357A | 公开(公告)日: | 2010-04-07 |
发明(设计)人: | 黄素梅;朱红兵;孙卓 | 申请(专利权)人: | 华东师范大学 |
主分类号: | H01B13/00 | 分类号: | H01B13/00;H01B5/14;H01L31/18;H01L31/20;H01L31/0224;H01L31/0232 |
代理公司: | 上海蓝迪专利事务所 31215 | 代理人: | 徐筱梅 |
地址: | 200241 *** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 掺杂 氧化锌 透明 导电 薄膜 制备 方法 | ||
1.一种绒面掺杂氧化锌透明导电薄膜的制备方法,其特征在于该方法是在 透明衬底上采用磁控非反应溅射在电功率密度0.3~1.9W/cm2下,以大于 100nm·m/min的高速率沉积ZnO:Al透明导电薄膜后再制备掩膜层纳米薄膜,利 用掩模层纳米薄膜对所沉积的ZnO:Al透明导电薄膜进行后期湿法化学刻蚀处理 形成绒面结构,后期湿法化学刻蚀处理包括先后对掩膜层纳米薄膜的湿法刻蚀 处理和对ZnO:Al透明导电薄膜的湿法刻蚀处理,掩膜层纳米薄膜为氧化铝、氧 化铜、氧化铁或氧化镍金属氧化物薄膜、二氧化硅绝缘体氧化物纳米薄膜、ZnO、 SnO2、TiO2或In2O3本征半导体薄膜或ZnO:B、SnO2:F、In2O3:Sn或溅射电功率密 度<0.2W/cm2下沉积的ZnO:Al掺杂半导体薄膜;磁控非反应溅射所用靶材为不 同掺杂浓度的ZnO:Al2O3陶瓷靶材,掺杂浓度为:0.2~2wt%,靶材形状为圆形 平板、矩形平板或圆柱体,对于掺杂浓度为2wt%的靶材,衬底温度在250℃以 上,对于掺杂浓度为1wt%的靶材,衬底温度在300℃以上,对于掺杂浓度为 0.5wt%的靶材,衬底温度在350℃以上,对于掺杂浓度为0.2wt%的靶材,衬底 温度在400℃以上,对于其他介于以上掺杂浓度的靶材,衬底的温度也在相应的 温度之间。
2.如权利要求1所述的制备方法,其特征在于:所述磁控非反应溅射方 式包括射频、直流和中频,射频和直流方式,其功率、电压和电流通过设备电 源的工作模式独立控制;中频方式,除功率、电压和电流通过工作模式变化外, 其频率也独立调节。
3.如权利要求1所述的制备方法,其特征在于:所用磁控非反应溅射设备 具有温度可控的衬底加热系统和水冷却循环系统,掩模层纳米薄膜生长时,腔 体、衬底温度范围为:0~400℃。
4.如权利要求1所述的制备方法,其特征在于:掩膜层纳米薄膜的制备方 法为溅射、化学气相沉积、电沉积、真空蒸发、旋涂、丝网印刷或化学镀。
5.如权利要求1所述的制备方法,其特征在于:后期湿法化学刻蚀处理所 使用的刻蚀溶液为稀释的无机酸和碱,其中酸为盐酸、硫酸、氢氟酸、草酸或 硼酸,碱为氢氧化钾或氢氧化钠。
6.如权利要求1所述的制备方法,其特征在于:绒面结构为倒金字塔形状, 直径1~2微米,深度在350~450纳米。
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