[发明专利]利用控制点信息实现半球体三维表面形状的重建方法无效
申请号: | 200910199535.5 | 申请日: | 2009-11-26 |
公开(公告)号: | CN101719287A | 公开(公告)日: | 2010-06-02 |
发明(设计)人: | 张栋;吕东辉 | 申请(专利权)人: | 上海大学 |
主分类号: | G06T17/10 | 分类号: | G06T17/10 |
代理公司: | 上海上大专利事务所(普通合伙) 31205 | 代理人: | 陆聪明 |
地址: | 200444*** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 利用 控制 信息 实现 半球 三维 表面 形状 重建 方法 | ||
技术领域
本发明属于物体三维表面测量技术领域,具体地说是涉及一种利用控制点信息实现了半 球体三维表面形状的重建方法,为真实物体三维模型的精确重建提供了理论依据和应用空间。
背景技术
为了满足工业检测,逆向工程和多媒体三维建模的需要,获取物体三维表面的准确信息, 已经成为近年来研究的热点问题之一。然而,如何使重建的物体三维表面无限逼近于标准的 物体表面,至今仍未能很好解决问题。
目前,物体三维表面重建方法按是否接触测量来区分,主要分为接触式测量方法和非接 触式测量方法。接触式测量方法的复杂度和造价高,不能满足实际的应用条件。非接触式测 量方法的主要有立体视觉法、Shape from Shading(简称SFS)、光度立体法等。立体视觉法 对立体匹配点的数量和准确度要求都非常高,在实际处理中很困难。SFS的求解是一个病态 问题,计算量大,误差较大。光度立体法是针对上述两种方法的缺点提出的,该方法测量速 度快,具有一定的应用价值。在图像重建领域中,光度立体法(PS)是在至少三个不同光源 方向的情形下,拍摄多幅图像,利用图像的光强来计算物体表面的方向梯度,进而得到物体 表面的三维重建。
在实际的应用中一般采用变分法和插补面法。变分法仅仅考虑了重建物体三维表面形状 的局部特征,忽略了全局的形状特征,因此,采用变分法重建物体三维表面会造成很大的误 差,由实验表明,变分法重建的平均相对误差高达19.76%。插补面法是在待测物体表面喷涂 漫反射材料,使用的光源是白光光源。它是2004年由以色列Aviv大学的Horovitz等人独 立提出的一种计算机辅助的物体三维表面偏差校正方法,具体地说,首先利用经典的重建算 法(比如变分法)得到半物体三维表面f1(x,y),然后以样条曲线理论为基础,结合单位矢量 场的光滑性准则,计算插补面f2(x,y),最后将f1(x,y)和f2(x,y)相加,即可得半物体三维 表面f3(x,y)。然而,该方法虽然测量速度快,但是,该算法所得的重建物体三维表面形状的 精度不高。
发明内容
鉴于以上所述现有技术存在的问题和不足,本发明目的在于提供一种利用控制点信息实 现半球体三维表面形状的重建方法,该方法不仅测量球类物体三维表面形状速度快,而且测 量所得的重建半球体三维表面形状的精度高,进而实现半球体三维表面形状的重建。
为达到上述目的,本发明采用如下方案:
上述利用控制点信息实现半球体三维表面形状的重建方法,其特征在于首先构建标准半 球模型,从三个角度得到三幅半球体灰度图像,建立物体表面辐照度方程;然后利用物体表 面辐照度方程和光度立体法,唯一确定物体表面方向梯度,进行变分法处理,由方向梯度重建 半球体三维表面f1(x,y);最后采用插补面算法和半球体表面控制点三维信息,得到插补面 f2(x,y),将f1(x,y)和f2(x,y)线性叠加求出物体表面每个点的三维信息,得到重建的半球 体三维表面f3(x,y),其具体步骤如下:
(1)、构建标准半球体模型,设立图像表面辐照度方程,其具体如下:
设标准半球体三维立体模型,半球体(物体)表面为z=f(x,y),则表面的反射分布函数 R(x,y),
设与的夹角为α,则R(x,y)=ρcosα,ρ为反射常数,设则表面 法向为(p,q,-1),
设光源方向当ρ=1时,反射分布函数R(x,y)表达式为:
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