[发明专利]一种用于DQPSK解调的相位判断方法有效
申请号: | 200910200306.0 | 申请日: | 2009-12-11 |
公开(公告)号: | CN102098254A | 公开(公告)日: | 2011-06-15 |
发明(设计)人: | 丁柯;姚峰;萧绍侯 | 申请(专利权)人: | 无锡华润矽科微电子有限公司 |
主分类号: | H04L27/233 | 分类号: | H04L27/233 |
代理公司: | 上海智信专利代理有限公司 31002 | 代理人: | 王洁 |
地址: | 214000 江苏*** | 国省代码: | 江苏;32 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 用于 dqpsk 解调 相位 判断 方法 | ||
1.一种用于DQPSK解调的相位判断方法,包括:
a)根据DQPSK调制信号的信号频率Fz和AD采样频率Fs确定一个固定值n;
b)判断每个AD采样点和与其对应的相邻采样点的相位差DP所处的相位区域,所述每个AD采样点与所述对应的相邻采样点之间有(n-1)个采样点;
c)统计与对应的相邻采样点的相位差DP处于同一相位区域的连续的AD采样点的个数;
d)根据步骤c)中每次统计的所述AD采样点的个数判断该次统计对应的信号相位变化并对下一次相位判断进行修正。
2.根据权利要求1所述的用于DQPSK解调的相位判断方法,其特征在于,步骤a)中确定所述固定值n采用的公式为:n=[Fs/Fz]。
3.根据权利要求1所述的用于DQPSK解调的相位判断方法,其特征在于,步骤b)包括:
b1)将每个AD采样点和与其对应的相邻采样点做差分运算,得到所述 每个AD采样点和与其对应的相邻采样点的相位差DP的正弦值sin(DP)、余弦值cos(DP);
b2)根据所述正弦值sin(DP)、余弦值cos(DP)判断所述每个AD采样点和与其对应的相邻采样点的相位差DP所处的相位区域。
4.根据权利要求3所述的用于DQPSK解调的相位判断方法,其特征在于,步骤b1)中所述差分运算公式为:
sin(DP)=sin(CP-PP)=sin(CP)cos(PP)-cos(CP)sin(PP),
cos(DP)=cos(CP-PP)=cos(CP)cos(PP)+sin(CP)sin(PP),
其中,CP表示所述AD采样点的相位,PP表示所述AD采样点对应的相邻采样点的相位。
5.根据权利要求3所述的用于DQPSK解调的相位判断方法,其特征在于,步骤b2)中包括:
若sin(DP)≤cos(DP)且-sin(DP)≤cos(DP),则-45°≤DP≤45°,DP处于第一相位区域;
若sin(DP)≥cos(DP)且-cos(DP)≤sin(DP),则45°≤DP≤135°,DP处于第一相位区域;
若sin(DP)≥cos(DP)且-cos(DP)≥sin(DP),则135°≤DP≤225°,DP处于第一相位区域;
若sin(DP)≤cos(DP)且-sin(DP)≥cos(DP),则225°≤DP≤315°,DP处于第一相位区域。
6.根据权利要求1或3所述的用于DQPSK解调的相位判断方法,其特征在于,
步骤d)中用SI(m,i)表示第m次统计有SI(m,i)个AD采样点和与其对应的相邻采样点的相位差DP处于同一相位区域i内;其中m为自然数,m大于等于1;i=1、2、3、4,标示四个相位区域;
若SI(m,i)大于第一阈值VS,则SI(m,i)加上修正值RC(m-1)后得到新的值SI′(m,i),其中RC(m-1)表示第m-1次相位判断后的修正值,其初始值RC(0)=0;
如果SI′(m,i)modn大于第二阈值TH,那么相位判断结果为对应第m次统计,有连续([SI′(m,i)/n]+1)*n个AD采样点和与其对应的相邻采样点的相位差DP处于同一相位区域i;相应的,第m次相位判断后的修正值RC(m)为SI′(m,i)modn-n+1;如果SI′(m,i)modn小于等于第二阈值TH,那么相位判断结果为对应第m次统计,有连续[SI′(m,i)/n]*n个AD采样点和与其对应的相邻采样点的相位差DP处于同一相位区域i;相应的,第m次相位判断后的修正值RC(m)为SI′(m,i)modn-1;
若SI(m,i)小于等于第一阈值VS,则对应第m次统计,没有相位判断结果,第m次相位判断后的修正值RC(m)=SI(m,i)+RC(m-1)。
7.根据权利要求5所述的用于DQPSK解调的相位判断方法,其特征在于,所述第一阈值VS=[n/5]。
8.根据权利要求5所述的用于DQPSK解调的相位判断方法,其特征在于,所述第二阈值TH=[n/2]。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于无锡华润矽科微电子有限公司,未经无锡华润矽科微电子有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/200910200306.0/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。