[发明专利]钨双大马士革工艺有效

专利信息
申请号: 200910201709.7 申请日: 2009-10-22
公开(公告)号: CN102044487A 公开(公告)日: 2011-05-04
发明(设计)人: 邓镭;方精训;程晓华 申请(专利权)人: 上海华虹NEC电子有限公司
主分类号: H01L21/768 分类号: H01L21/768;H01L23/532
代理公司: 上海浦一知识产权代理有限公司 31211 代理人: 王江富
地址: 201206 上*** 国省代码: 上海;31
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要:
搜索关键词: 大马士革 工艺
【权利要求书】:

1.一种钨双大马士革工艺,晶圆上包括依次从下到上的下层金属层、金属覆盖层、层间介质层、金属布线槽阻挡层、上层金属层,下层金属层中有填充有金属的金属布线槽,其特征在于,包括以下步骤:

一.通孔的光刻与刻蚀,通孔由晶圆表面上层金属层至下层金属层中的金属布线槽;

二.在所述通孔中填充钨;

三.上层金属层中的金属布线槽的光刻和钨刻蚀,将上层金属层中的金属布线槽上方的钨去除;

四.上层金属层中的金属布线槽刻蚀,形成上层金属层中的金属布线槽;

五.对通孔和上层金属层中的金属布线槽进行钨填充;

六.钨化学机械抛光,磨去晶圆表面多余的钨。

2.根据权利要求1所述的钨双大马士革工艺,其特征在于,所述上层金属层中的金属布线槽的刻蚀是干法刻蚀或湿法刻蚀。

3.根据权利要求2所述的钨双大马士革工艺,其特征在于,所述上层金属层中的金属布线槽的刻蚀,其刻蚀过程分为两个阶段,第一阶段刻蚀工艺,采用对上层金属层介质材料有高选择比的工艺刻蚀钨,并且停留在层间介质层之上,第二阶段刻蚀工艺,采用对钨有高选择比的工艺刻蚀上层金属层介质材料。

下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于上海华虹NEC电子有限公司,未经上海华虹NEC电子有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/200910201709.7/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top