[发明专利]缺陷修复装置和缺陷修复方法无效
申请号: | 200910204215.4 | 申请日: | 2009-10-14 |
公开(公告)号: | CN101726951A | 公开(公告)日: | 2010-06-09 |
发明(设计)人: | 筒井亚希子 | 申请(专利权)人: | 索尼株式会社 |
主分类号: | G02F1/1362 | 分类号: | G02F1/1362;B23K26/00 |
代理公司: | 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 11038 | 代理人: | 李渤 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 缺陷 修复 装置 方法 | ||
1.一种缺陷修复装置,包括:
缺陷检测单元,用于检查其上形成有重复图案的多层基板,并且 提取关于所述重复图案中的缺陷的位置信息以及关于所述缺陷的特 征信息;
数据库,多个缺陷修复技术被登记在该数据库中;
缺陷修复单元,用于利用指定的缺陷修复技术来修复所述多层基 板的缺陷;
控制单元,用于基于所述多层基板的层结构从所述数据库中读取 针对所述缺陷检测单元检测出的缺陷的缺陷修复技术,并且控制利用 该缺陷修复技术来修复所述缺陷的所述缺陷修复单元,
其中,所述控制单元包括:
区域信息获得单元,用于获得所述缺陷的区域信息即第一区域信 息;
区域匹配率/不匹配率计算单元,用于计算由所述区域信息获得 单元获得的第一区域信息和所述重复图案中的预先登记的区域信息 即第二区域信息之间的区域匹配率和区域不匹配率;
缺陷区域判断水平计算单元,用于基于预定的阈值来判断由所述 区域匹配率/不匹配率计算单元计算出的区域匹配率和区域不匹配率 的水平;
模板选择判断水平计算单元,用于基于所述缺陷区域判断水平计 算单元的判断结果来选择表示缺陷修复技术的模板;
模板输出判断水平计算单元,用于基于预定的判断水平,确定由 所述模板选择判断水平计算单元所选择的模板的输出优先次序;以及
缺陷修复执行单元,用于利用基于所述模板输出判断水平计算单 元所确定的优先次序的缺陷修复技术来控制所述缺陷修复单元。
2.根据权利要求1所述的缺陷修复装置,其中,所述控制单元 将实际缺陷的区域信息即第一区域信息的组成和与所述重复图案中 的缺陷对应的预先登记的区域信息即第二区域信息的组成进行比较, 以基于比较结果从所述数据库中读取所述缺陷修复技术。
3.根据权利要求2所述的缺陷修复装置,其中,所述区域信息 的组成包括层信息和标签信息,所述层信息表示关于组成所述多层基 板的各个层的信息,所述标签信息表示关于组成所述层的各个区域即 标签的信息。
4.根据权利要求3所述的缺陷修复装置,
其中,所述层信息包括:表示层的次序的层ID、层名称、层中 的标签数,并且
其中,所述标签信息包括标签ID和层ID,所述标签ID用于识 别所述层中的标签,所述层ID表示包括所述标签的层。
5.根据权利要求4所述的缺陷修复装置,其中,所述数据库中 登记有地图数据,该地图数据是如下得到的:将已被登记为区域信息 的组成的层信息和标签信息展开为所述重复图案中的坐标值。
6.一种缺陷修复方法,包括:
第一步骤,缺陷检测单元检测其上形成有重复图案的多层基板, 并且提取关于所述重复图案中的缺陷的位置信息和关于所述缺陷的 特征信息;
第二步骤,控制单元基于所述多层基板的层结构,从数据库中读 取针对第一步骤中检测出的缺陷的缺陷修复技术;以及
第三步骤,控制单元控制利用第二步骤中所读取的缺陷修复技术 来修复所述缺陷的缺陷修复单元,
所述控制单元执行如下步骤:
区域信息获得步骤,区域信息获得单元获得所述缺陷的区域信息 即第一区域信息;
区域匹配率/不匹配率计算步骤,区域匹配率/不匹配率计算单元 计算由所述区域信息获得单元获得的第一区域信息和所述重复图案 中的预先登记的区域信息即第二区域信息之间的区域匹配率和区域 不匹配率;
缺陷区域判断水平计算步骤,缺陷区域判断水平计算单元基于预 定的阈值来判断由所述区域匹配率/不匹配率计算单元计算出的区域 匹配率和区域不匹配率的水平;
模板选择判断水平计算步骤,模板选择判断水平计算单元基于所 述缺陷区域判断水平计算单元的判断结果来选择表示缺陷修复技术 的模板;
模板输出判断水平计算步骤,模板输出判断水平计算单元基于预 定的判断水平,确定由所述模板选择判断水平计算单元所选择的模板 的输出优先次序;以及
缺陷修复执行步骤,缺陷修复执行单元利用基于所述模板输出判 断水平计算单元所确定的优先次序的缺陷修复技术来控制所述缺陷 修复单元。
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