[发明专利]光信息再现装置、光信息记录再现装置有效

专利信息
申请号: 200910205425.5 申请日: 2009-10-23
公开(公告)号: CN101740051A 公开(公告)日: 2010-06-16
发明(设计)人: 嶋田坚一 申请(专利权)人: 日立民用电子株式会社
主分类号: G11B7/0065 分类号: G11B7/0065;G03H1/00
代理公司: 北京尚诚知识产权代理有限公司 11322 代理人: 龙淳
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要:
搜索关键词: 信息 再现 装置 记录
【说明书】:

技术领域

本发明涉及一种装置,其利用全息照相术将信息记录于光信息记 录介质及/或由光信息记录介质再现信息。

背景技术

以往,根据使用蓝色半导体激光的、蓝光盘(Blu-ray Disc:BD) 标准等,在民用方面也可以使具有50GB左右的记录密度的光盘商品 化。今后,希望光盘也能够大容量化到与100GB~1TB这样的硬盘 (HDD:Hard Disc Drive)容量相同的程度。

但是,为了在光盘上实现这样的超高密度,需要与迄今为止的短 波长化和物镜高NA化的目前的高密度技术方向不同的新的存储技术。

有关下一代的存储技术正在研究中,利用全息照相术记录数字信 息的全息图记录技术备受关注。

所谓全息照相术是指将具有通过空间光调制器二维调制的记录数 据的信息的信号光和参照光在记录介质的内部重合,通过此时生成的 干涉条纹图案在记录介质内发生折射率调制,由此记录信息的技术。

另外,在信息再现时,如果通过相同的装置对记录介质照射记录 时使用的参照光的话,则记录于记录介质中的全息图如衍射光栅那样 起作用,生成衍射光。包含该衍射光所记录的信号光和相位信息作为 同一光而被再现。

对再现的信号光利用CMOS或CCD等光检测器进行二维高速检 测。这样,在全息图记录中,在一张全息图上能够同时记录/再现二维 的信息,另外,在同一部位能够反复写多个记录数据,因此对大容量 且高速的信息的记录再现有效。

作为全息图记录技术,例如有日本专利特开2004-272268号公报 (专利文献1)。在本公报中,记载有在将信号光束通过透镜汇聚到光 信息记录介质的同时,照射平行光束的参照光而使其干涉,进行全息 图的记录,而且一边改变参照光向光记录介质的入射角度,一边将不 同的记录数据显示于空间光调制器中,进行多重记录的所谓的角度多 重记录方式。而且,在本公报中,还记载有一种技术,该技术将信号 光通过透镜汇聚,并在其光束腰(beam waist)配置开口(空间滤光器), 由此能够缩短相邻的全息图的间隔,与目前的角度多重记录方式相比, 增大记录密度/容量。

另外,作为本技术领域的背景技术,有特开平9-305094号公报 及特开2003-248416号公报。两公报公都开了控制开口。

专利文献1:(日本)特开2004-272268号公报

专利文献2(日本):特开平9-305094号公报

专利文献3(日本):特开2003-248416号公报

对角度多重记录方式的全息图记录而言,为了实现大容量话要提 高多重记录数,为此需要在记录介质中形成厚的全息图,以使布拉格 选择性显著。另外,为了形成厚的全息图,需要沿记录介质的深度方 向使参照光和信号光充分重合。

因此,如图1所示,在参照光的角度扫描范围(例如,从θ1~θN 的范围)内,相对于任何参照光入射角,均以完全覆盖信号光的方式 设定参照光的光束径,这一点很重要。

在此,如图2所示,在扫描参照光的入射角时,为在记录介质中 完全覆盖信号光所需的最低限的参照光的光束径,从几何学的关系可 知,因参照光的入射角度的不同而成为不同的值。例如,与图2(b) 相比,为图2(a)的入射角度时,完全覆盖信号光所需的参照光的光 束径增大。因此,目前对参照光的光束径而言,在参照光的入射角度 扫描范围内,最常用的是进行将参照光的光束径固定在需要的最大值 的设定。

但是,如上所述,当将参照光的光束径固定在上述最大值时,本 来,在更小的光束径也与信号光充分重合的参照光入射角的情况下, 需要照射更大的光束径的参照光,因此,在记录介质中,如图3所示, 产生很多对信号的记录无用的曝光区域。

这种无用的曝光区域的产生浪费了用于信号记录的区域,因此不 利于大容量、高密度记录。另外,考虑无用的曝光区域的产生,如果 使用性能更高的记录介质,则不得不使记录介质的规格更严格,其结 果是,不利于记录介质的低价格化。

另外,在专利文献2及3中均没有记载和暗示上述相关课题。

发明内容

本发明在记录及/或再现时,通过控制配置在参照光的光路中的开 口的大小或开口的位置,减小记录介质上的无用的曝光区域,以及对 记录介质上的适当的部位照射参照光。

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