[发明专利]控制质量分析器中的离子数目有效
| 申请号： | 200910206363.X | 申请日： | 2004-01-23 |
| 公开（公告）号： | CN101685755A | 公开（公告）日： | 2010-03-31 |
| 发明（设计）人： | 史蒂文·霍宁;罗伯特·马力克;约翰·E.·赛卡;安德烈亚斯·维奥斯 | 申请（专利权）人： | 萨莫芬尼根有限责任公司 |
| 主分类号： | H01J49/42 | 分类号： | H01J49/42 |
| 代理公司： | 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 | 代理人： | 秦 晨 |
| 地址： | 美国加利*** | 国省代码： | 美国;US |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 控制 质量 分析器 中的 离子 数目 | ||
1.一种用于操作质量分析器的方法，该方法包括：
a)沿着从离子源延伸到质量分析器的离子路径引入离子样品；
b)在采样时间间隔期间积累得自于离子样品的离子；
c)检测得自于离子样品的离子；
d)根据检测和采样时间间隔确定注射时间间隔，该注射时间间隔 表示用于获得预定离子数目的时间间隔；
e)在相应于注射时间间隔的时间内积累离子；和
f)将得自于所积累离子的离子引入到质量分析器中，
其中，在步骤(b)和(e)内在离子收集器中积累离子样品和离子，
该方法进一步包括：
在步骤(b)和(e)中积累离子之前，用质量过滤器过滤离子样品和 离子，
其中，过滤离子样品和离子包括：使离子样品和离子通过具有一 个或多个质量过滤器的多极设备。
2.一种用于操作质量分析器的方法，该方法包括：
a)沿着从离子源延伸到质量分析器的离子路径引入离子样品；
b)在采样时间间隔期间积累得自于离子样品的离子；
c)检测得自于离子样品的离子；
d)根据检测和采样时间间隔确定注射时间间隔，该注射时间间隔 表示用于获得预定离子数目的时间间隔；
e)在相应于注射时间间隔的时间内积累离子；和
f)将得自于所积累离子的离子引入到质量分析器中，
其中，在步骤(b)和(e)内在离子收集器中积累离子样品和离子，
该方法进一步包括：
在步骤(b)和(e)中积累离子之前，用质量过滤器过滤离子样品和 离子，
其中，质量过滤器包括一个四极设备。
3.一种用于操作质量分析器的方法，该方法包括：
a)沿着从离子源延伸到质量分析器的离子路径引入离子样品；
b)在采样时间间隔期间积累得自于离子样品的离子；
c)检测得自于离子样品的离子；
d)根据检测和采样时间间隔确定注射时间间隔，该注射时间间隔 表示用于获得预定离子数目的时间间隔；
e)在相应于注射时间间隔的时间内积累离子；和
f)将得自于所积累离子的离子引入到质量分析器中，
其中，在步骤(b)和(e)内在离子收集器中积累离子样品和离子， 并且
其中，步骤(c)在步骤(b)之后执行。
4.一种用于操作质量分析器的方法，该方法包括：
a)沿着从离子源延伸到质量分析器的离子路径引入离子样品；
b)在采样时间间隔期间积累得自于离子样品的离子；
c)检测得自于离子样品的离子；
d)根据检测和采样时间间隔确定注射时间间隔，该注射时间间隔 表示用于获得预定离子数目的时间间隔；
e)在相应于注射时间间隔的时间内积累离子；和
f)将得自于所积累离子的离子引入到质量分析器中，
其中，在步骤(b)和(e)内在离子收集器中积累离子样品和离子，
该方法进一步包括：
在步骤(e)中积累离子之前将基本上全部的离子从离子收集器清 除出。
5.一种用于操作质量分析器的方法，该方法包括：
a)沿着从离子源延伸到质量分析器的离子路径引入离子样品；
b)在采样时间间隔期间积累得自于离子样品的离子；
c)检测得自于离子样品的离子；
d)根据检测和采样时间间隔确定注射时间间隔，该注射时间间隔 表示用于获得预定离子数目的时间间隔；
e)在相应于注射时间间隔的时间内积累离子；和
f)将得自于所积累离子的离子引入到质量分析器中，
该方法进一步包括：
从离子样品中的离子产生产物离子；和
从步骤(d)中积累的离子产生产物离子；
其中，检测得自于离子样品的离子包括：检测从离子样品中的离 子产生的产物离子的至少一部分；并且
将得自于所积累离子的离子引入到质量分析器中包括：将从步骤 (e)中积累的离子产生的产物离子的至少一部分引入到质量分析器中。
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