[发明专利]具有可间歇动作电路的装置

说明书

技术领域

本发明涉及一种具有在待机模式下可间歇动作的电路的装置。

背景技术

近年来，伴随半导体元件的微型化、集成化、高速动作化的进展，在高集成化的系统LSI和SoC(System on a Chip)等半导体装置中，待机(stand-by)时的泄漏电流引起的消耗电力正在增大。在要求低消耗电力化的移动体设备等中，需要减小等待时的消耗电力。为了降低待机时的消耗电力，在各种领域中，多采用间歇性地对在待机时不需要动作的电路进行电力的切断和供应的技术。采用这样的技术的半导体装置，已被日本特开2003-188798号公报公开。

在进行这样的半导体装置的测试的情况下，由于在待机期间中不能进行动作测试，所以在测试装置中会产生待机时间，作为测试工序(process)整体的时间将变长。

进而，存在需要根据半导体装置的种类来考虑间歇动作的定时并进行测试，对测试设备或测试的控制软件产生制约的问题。

发明内容

本发明的目的在于提供一种具有测试所需的时间较少、可以进行间歇动作的电路的装置。

根据本发明的一个方面，提供一种具有可间歇动作电路的装置，其特征在于，具备：电路部，具有周期性地设定动作状态和待机状态的间歇动作电路；动作模式控制部，生成指定上述间歇动作电路的间歇动作测试模式和与所述间歇动作电路的连续动作或规定期间动作相对应的动作测试模式中的某一个的模式控制信号；动作定时生成部，输入上述模式控制信号，根据上述模式控制信号生成使上述间歇动作电路动作或待机的动作控制信号，向上述电路部输出上述动作控制信号。

根据本发明的另一个方面，提供一种具有可间歇动作电路的装置，其特征在于，包括：可选择性进行通常动作和间歇动作的信号处理电路，上述间歇动作交替地执行动作状态和待机状态；作为生成场测试模式控制信号的动作模式控制部，上述测试模式控制信号，指定上述信号处理电路的通常动作测试模式以及间歇动作测试模式；作为接受上述测试模式控制信号的动作定时生成部，上述动作定时生成部，向上述信号处理电路输出动作控制信号，该上述动作控制信号根据上述测试模式控制信号而使上述通常动作和上述间歇动作进行。

附图说明

图1是表示本发明的第1实施例的传感器LSI的框图。

图2是表示第1实施例的传感器LSI的动作的图。

图3是表示第1实施例的传感器LSI的测试工序的图。

图4是表示本发明的第2实施例的收发模块的框图。

图5是表示本发明的第2实施例的收发模块的测试工序的图。

具体实施方式

以下，参照附图说明本发明的(多个)实施例。

参照图1说明作为本发明的第1实施例的半导体装置的传感器LSI、即包含传感器的集成电路。图1是表示本发明的第1实施例的传感器LSI的框图。

如图1所示，在传感器LSI50中设有传感器部1、控制部2、存储部3、动作模式控制部4以及动作定时生成部5。传感器LSI50感测磁场，输出与磁场的强度相应的信号。传感器LSI50在没有感测到磁场的待机时切断对不需要动作的电路的电力供应。传感器部1、控制部2以及存储部3构成信号处理电路8。后文中，“信号处理电路”意味着进行包含信号的放大、A/D变换、运算、传送或者存储在内的处理的电路部。

传感器部1，在电源被切断时，或在根据后述的动作控制信号Sds而停止动作时，进入待机状态。传感器部1选择性地进行通常动作与间歇动作。在间歇动作中，传感器1的动作状态和待机状态被周期性地设定。在传感器LSI50中感测磁场，但也可以感测温度、光、移位(位置)、压力、电场、重力(加速度)等，或感测多个种类。

动作模式控制器4用于传感器LSI50的测试时。动作模式控制部4生成指定间歇动作测试模式和动作测试模式中的某一个的模式控制信号Sms，并向动作定时生成部5输出所生成的模式控制信号Sms。

动作定时生成部5用于传感器LSI50的测试时。动作定时生成部5根据上述模式控制信号Sms生成使传感器部1以及控制部2动作或待机的动作控制信号Sds。

动作控制信号Sds，除了传感器部1以及控制部2以外，也可以向存储部3输出。这种情况下，在传感器LSI50的测试时，存储部3动作或待机。

传感器部1中设有传感器11、放大电路12以及比较器13。

传感器11，在感测到磁场时，对磁场产生反应，发生与磁场强度成比例的输出电压，并向放大电路12输出发生的输出电压。传感器11使用例如霍尔元件或者MR元件等。

放大电路12输入从传感器11输出的输出电压，并放大该输出电压。