[发明专利]图像形成设备有效
申请号: | 200910207475.7 | 申请日: | 2009-11-05 |
公开(公告)号: | CN101738895A | 公开(公告)日: | 2010-06-16 |
发明(设计)人: | 涩谷健一;雁子贵之 | 申请(专利权)人: | 佳能株式会社 |
主分类号: | G03G15/00 | 分类号: | G03G15/00 |
代理公司: | 北京林达刘知识产权代理事务所 11277 | 代理人: | 刘新宇;陈立航 |
地址: | 日本东京都大*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 图像 形成 设备 | ||
1.一种图像形成设备,包括:
感光构件;
充电构件,其能够接触所述感光构件,以对所述感光构件 充电;
施加部件,用于向所述充电构件施加充电偏压;
检测部件,用于检测在所述充电构件和所述感光构件之间 流动的电流;以及
控制部件,用于在将比在所述感光构件和所述充电构件之 间开始放电时的电压低的电压施加至所述充电构件时所述检测 部件检测到不低于预定值的电流的情况下,控制所述图像形成 设备,以执行用于去除沉积在所述感光构件的表面上的放电产 物的工作模式。
2.根据权利要求1所述的图像形成设备,其特征在于,所 述施加部件通过施加足以引起所述充电构件放电的偏压,使所 述充电构件对所述感光构件充电。
3.根据权利要求1所述的图像形成设备,其特征在于,还 包括用于摩擦所述感光构件的表面的摩擦构件,其中,在所述 工作模式下,所述控制部件使所述摩擦构件工作。
4.根据权利要求1所述的图像形成设备,其特征在于,还 包括研磨部件,所述研磨部件用于将研磨颗粒供给至所述感光 构件,以对所述感光构件的表面进行研磨,其中,在所述工作 模式下,所述控制部件使所述研磨部件工作。
5.根据权利要求1所述的图像形成设备,其特征在于,所 述施加部件向所述充电构件施加作为叠加的DC电压和AC电压 的充电偏压。
6.一种图像形成设备,包括:
感光构件;
充电构件,其能够接触所述感光构件,以对所述感光构件 充电;
施加部件,用于向所述充电构件施加充电偏压;
加热部件,用于对所述感光构件加热;
检测部件,用于检测在所述充电构件和所述感光构件之间 流动的电流;以及
控制部件,用于在将比在所述感光构件和所述充电构件之 间开始放电时的电压低的电压施加至所述充电构件时所述检测 部件检测到不低于预定值的电流的情况下,控制所述加热部件 以对所述感光构件加热。
7.一种图像形成设备,包括:
感光构件;
充电构件,其能够接触所述感光构件,以对所述感光构件 充电;
施加部件,用于向所述充电构件施加充电偏压;
电位传感器,用于感测所述感光构件的表面的电位;以及
控制部件,用于在所述电位传感器在由施加有比在所述感 光构件和所述充电构件之间开始放电时的电压低的电压的所述 充电构件所接触的表面处感测到绝对值不低于预定值的电位的 情况下,控制所述图像形成设备,以执行用于去除沉积在所述 感光构件的表面上的放电产物的去除模式操作。
8.一种图像形成设备,包括:
感光构件;
充电构件,其能够接触所述感光构件,以对所述感光构件 充电;
施加部件,用于向所述充电构件施加充电偏压;
加热部件,用于对所述感光构件加热;
电位传感器,用于感测所述感光构件的表面的电位;以及
控制部件,用于在所述电位传感器在由施加有比在所述感 光构件和所述充电构件之间开始放电时的电压低的电压的所述 充电构件所接触的表面处感测到绝对值不低于预定值的电位的 情况下,控制所述加热部件以对所述感光构件加热。
9.一种图像形成设备,包括:
感光构件;
充电构件,其能够接触所述感光构件,以对所述感光构件 充电;
清洁构件,用于清洁所述感光构件;
施加部件,用于向所述充电构件施加充电偏压;以及
检测部件,用于检测在所述充电构件和所述感光构件之间 流动的电流,
其中,在将比在所述感光构件和所述充电构件之间开始放 电时的电压低的电压施加至所述充电构件时所述检测部件检测 到不低于预定值的电流的情况下,所述感光构件的旋转持续时 间长于在将比在所述感光构件和所述充电构件之间开始放电时 的电压低的电压施加至所述充电构件时所述检测部件检测到低 于预定值的电流的情况下的旋转持续时间。
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