[发明专利]物镜、光学拾取设备、光学记录/再现设备和校正像差方法有效
申请号: | 200910208126.7 | 申请日: | 2009-10-28 |
公开(公告)号: | CN101726839A | 公开(公告)日: | 2010-06-09 |
发明(设计)人: | 相叶基夫;丰田清;榊原启行;高桥丰和;安住航平;小川健一 | 申请(专利权)人: | 索尼株式会社 |
主分类号: | G02B13/24 | 分类号: | G02B13/24;G02B27/00;G11B7/135 |
代理公司: | 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 11038 | 代理人: | 秦晨 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 物镜 光学 拾取 设备 记录 再现 校正 方法 | ||
1.一种物镜,
其中,对于所述物镜,当由于光学记录介质的覆盖层的厚度的不 同所导致的五级球面像差的斜率的绝对值等于0.002、且由于所述物 镜所处的环境的温度的变化而导致的五级球面像差的斜率的绝对值 等于0.001,ΔL=12.5μm且ΔT=35℃时,满足表达式
0.83<(pM/pL)<1.17和0.83<(pM/pT)<1.17
或者表达式
0.80<(pM/pL)<1.20和0.86<(pM/pT)<1.14,
其中,pL是五级球面像差与三级球面像差之比,该球面像差是 由于光学记录介质的覆盖层的厚度不同而导致的,pT是五级球面像差 与三级球面像差之比,该球面像差是由于物镜的环境温度的变化而导 致的,并且,pM是五级球面像差与三级球面像差之比,该球面像差是 由于入射倍率的变化而导致的,ΔL是所述覆盖层的厚度变化,ΔT 是所述温度的变化,
所述物镜由塑料制成,具有等于或大于0.80的数值孔径。
2.根据权利要求1所述的物镜,
其中,所述物镜用于波长为405±8nm的光。
3.一种光学拾取设备,包括:
光源;
物镜;
光学系统,用于将由光源发射的光引导到所述物镜;以及
驱动单元,用于将所述物镜移动到预定位置,在该预定位置处所 述物镜面对光学记录介质,
其中,对于所述物镜,当由于所述光学记录介质的覆盖层的厚度 的不同所导致的五级球面像差的斜率的绝对值等于0.002、且由于所 述物镜所处的环境的温度的变化而导致的五级球面像差的斜率的绝 对值等于0.001,ΔL=12.5μm且ΔT=35℃时,满足表达式
0.83<(pM/pL)<1.17和0.83<(pM/pT)<1.17
或者表达式
0.80<(pM/pL)<1.20和0.86<(pM/pT)<1.14
其中,pL是五级球面像差与三级球面像差之比,该球面像差是 由于光学记录介质的覆盖层的厚度不同而导致的,pT是五级球面像差 与三级球面像差之比,该球面像差是由于物镜的环境温度的变化而导 致的,并且,pM是五级球面像差与三级球面像差之比,该球面像差是 由于入射倍率的变化而导致的,ΔL是所述覆盖层的厚度变化,ΔT 是所述温度的变化,
所述物镜由塑料制成,具有等于或大于0.80的数值孔径。
4.根据权利要求3所述的光学拾取设备,
其中,所述光源发射波长为405±8nm的光。
5.根据权利要求3所述的光学拾取设备,还包括:
准直透镜,该准直透镜能够通过沿着光轴移动来调整其位置,
其中,所述准直透镜起到下述作用:通过使用由入射倍率的变化 而导致的三级球面像差和五级球面像差,校正由于所述光学记录介质 的覆盖层的厚度不同而导致的三级球面像差和五级球面像差,以及由 于温度变化而导致的三级球面像差和五级球面像差。
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