[发明专利]电阻性存储元件的双回路检测方案

权利要求书

1.一种检测存储单元的逻辑状态的方法，所述方法包括：

将计数器的计数值预置为预置计数值；

利用充电电流在第一多个时间间隔期间对电容器充电，所述第一 多个时间间隔的每一个时间间隔当对所述电容器的周期检测表示其 上的第一电压已超过阈电压时被终止；

在第二多个时间间隔期间利用放电电流将所述电容器放电，所述 第二多个时间间隔的每一个时间间隔当对所述电容器的周期检测表 示其上的第二电压已低于所述阈电压时被终止；

利用另外的电流补充所述充电电流和放电电流，所述另外的电流 将延长所述第二多个时间间隔的一个或多个时间间隔，以便形成第三 多个延长的时间间隔，所述另外的电流与存储单元的电阻性元件的电 阻值有关，所述电阻值对应于所述存储单元的逻辑状态；

在所述第一多个时间间隔期间周期性地递增所述计数器，并且在 所述第二多个时间间隔和第三多个时间间隔期间周期性地递减所述 计数器，以便产生所述计数值随时间的净变化量；以及

建立所述计数值随时间的所述净变化量与所述存储单元的所述 逻辑状态之间的关系。

2.如权利要求1所述的检测存储单元的逻辑状态的方法，其中 所述另外的电流包括充电电流。

3.如权利要求1所述的检测存储单元的逻辑状态的方法，其中 所述周期性地递增所述计数器包括：

在所述第一多个时间间隔的每个时间间隔期间递增所述计数器。

4.如权利要求1所述的检测存储单元的逻辑状态的方法，其中 所述周期性地递减所述计数器包括：

在所述第二多个时间间隔和第三多个时间间隔的每个时间间隔 期间递减所述计数器一次或多次。

5.如权利要求1所述的检测存储单元的逻辑状态的方法，其中 所述用另外的电流补充所述充电电流和放电电流包括：

在跨导放大器的输入端接收与所述电阻性元件的所述电阻值相 关的另外的电压；以及

在所述跨导放大器的输出端输出所述另外的电流，所述跨导放大 器具有这样的传递函数，使得所述另外的电流以函数形式与所述另外 的电压相关。

6.如权利要求5所述的检测存储单元的逻辑状态的方法，其中 还包括：

将以分压器电路的形式配置所述存储单元的所述电阻性元件，所 述分压器电路具有公共节点；以及

在所述分压器电路两端施加标准电压，使得所述公共节点呈现与 所述存储单元的所述电阻值相关的所述另外的电压。

7.如权利要求1所述的检测存储单元的逻辑状态的方法，其中 所述存储单元包括MRAM存储单元。

8.如权利要求1所述的检测存储单元的逻辑状态的方法，其中 所述用另外的电流补充所述充电电流和放电电流包括将所述另外的 电流分别地与所述充电电流和放电电流一起流经所述电容器的公共 极板。

9.如权利要求1所述的检测存储单元的逻辑状态的方法，其中 所述周期性地在所述第一多个时间间隔期间递增所述计数器包括在 所述第一多个时间间隔的每一个时间间隔期间将所述计数器递增一 个计数增量。

10.如权利要求1所述的检测存储单元的逻辑状态的方法，其中 所述周期性地在所述第二多个时间间隔期间递减所述计数器包括在 所述第二多个时间间隔的每一个时间间隔期间将所述计数器递减一 个计数增量以及在所述第三多个时间间隔的每一个时间间隔期间将 所述计数器递减两个计数增量。

11.如权利要求1所述的检测存储单元的逻辑状态的方法，其中 还包括：

滤除所述另外的电流中的噪声分量。

12.如权利要求1所述的检测存储单元的逻辑状态的方法，其中 所述第一多个时间间隔和第二多个时间间隔彼此交错，使得所述第一 多个时间间隔的每一个时间间隔后面紧跟着所述第二多个时间间隔 的相应一个的时间间隔，并且所述第二多个时间间隔的每一个时间后 面紧跟着所述第一多个时间间隔的相应一个的时间间隔。