[发明专利]一种有效降低封装热阻大功率LED灯无效
申请号: | 200910210879.1 | 申请日: | 2009-11-12 |
公开(公告)号: | CN101696779A | 公开(公告)日: | 2010-04-21 |
发明(设计)人: | 刘薇 | 申请(专利权)人: | 东莞勤上光电股份有限公司 |
主分类号: | F21S2/00 | 分类号: | F21S2/00;F21V19/00;F21V29/00;H01L23/36;H01L33/00;F21Y101/02 |
代理公司: | 北京科亿知识产权代理事务所(普通合伙) 11350 | 代理人: | 汤东凤 |
地址: | 523565 *** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 有效 降低 封装 大功率 led | ||
技术领域
本发明涉及LED照明装置,具体为一种有效降低封装热阻大功率LED灯。
背景技术
对于大功率LED器件而言,尽可能减少传热回路中的热沉数量是降低热阻的一个重要途径,即芯片直接封装在金属散热器上。然而,由于LED芯片与金属材料之间热膨胀系数的不匹配,两者受热后会产生热错配应力,会导致LED器件发光失效或者导热效果减弱等不良后果。
发明内容
本发明所要解决的技术问题是提供一种有效降低封装热阻大功率LED灯,具有新型的结构,降低热错配应力,而又不大幅增加热沉厚度。
本发明解决上述技术问题所采用的技术方案为:
一种有效降低封装热阻大功率LED灯,包括金属基座和封装在金属基座上的了的LED芯片以及金属导线、封装胶体,金属基座与LED芯片之间设有用于缓冲LED芯片与金属基座之间的热错配应力的热沉缓冲层。
所述热沉缓冲层为电镀设置于金属基座上的FeNi合金层。
所述FeNi合金层厚度为2-5微米。
LED芯片与热沉缓冲层采用共晶焊接的方式连接。
FeNi合金层含有36%的Ni。
金属基座1选择导热性能较好的铜材料。
本发明的有益效果在于:设置了FeNi合金层作为热沉缓冲层,降低热错配应力,而又不大幅增加热沉厚度,特别是FeNi合金层含有36%的Ni,的选择,选用含有36%的Ni的这一合金,效果最佳的。这种成分比的合金,称之为因瓦合金,也称为殷钢,其热膨胀系数很低,趋近于零。另外是结合共晶焊工艺,更加有效降低热错配应力,保证大功率LED灯的功效和使用寿命。
附图说明
图1、本发明一种有效降低封装热阻大功率LED灯结构示意图。
具体实施方式
如图1所示的一种有效降低封装热阻大功率LED灯,包括金属基座1和封装在金属基座1上的了的LED芯片2以及金属导线4、封装胶体5,金属基座1与LED芯片2之间设有用于缓冲LED芯片与金属基座之间的热错配应力的热沉缓冲层3。
所述热沉缓冲层3为电镀设置于金属基座1上的FeNi合金层。
所述FeNi合金层厚度为2-5微米。
FeNi合金层含有36%的Ni。
LED芯片2与热沉缓冲层3采用共晶焊接的方式连接。
金属基座1选择导热性能较好的铜材料。
本发明不仅局限于上述最佳实施方式,任何人在本发明的启示下都可得出其他各种形式的产品,但不论在其形状或结构上作任何变化,凡是具有与本发明相同或相近似的技术方案,均在其保护范围之内。
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