[发明专利]用于检测和补偿在压力测量单元上的快速温度变化的方法

权利要求书

1.一种用于检测和补偿压力测量单元上的快速温度变化的系统， 所述系统包括

(a)第一传感器装置(C_mess)，设置在被施加有压力的膜上，用于 产生取决于膜的偏转的测量信号，所述第一传感器装置的电容式传感器 (C_mess)被设置在膜的中心处，以采集膜的中心区域中的偏转，

(b)第二传感器装置，设置在所述膜上，用于产生取决于膜的偏 转的参考信号，所述第二传感器装置的电容式传感器(C_ref)被设置在 膜的边缘区域中，以采集膜的边缘区域中的偏转，

(c)微处理器，用于根据所述测量信号产生一组测量值(C_m)，并 且根据所述参考信号产生一组相应的参考值(C_r)，以及

(d)所述微处理器的存储器，用于依据所述测量值存储所述参考 值(C_r)的期望值的容差带，并且其中当前产生的参考值(C_r)与所述 容差带中的期望值相比较，并且：

-在一致时，检测到由于压力引起的膜偏转，并且所述测量值 (C_m)作为所测量的压力的测量值被输出，或者

-在不一致时，检测到由快速温度变化引起的膜偏转，用校正值 校正所述测量值(C_m)，并且输出校正后的测量值作为所测量的压力的 测量值。

2.根据权利要求1的系统，其特征在于还包括：

存储在所述微处理器的存储器中的校正值表，用于依据由快速温度 变化引起的测量值变化的变化方向为位于容差带之外的参考值(C_r)与 其期望值之间的每个差值分配一个校正值。

3.一种用于检测和补偿压力测量单元(1)上的快速温度变化的方 法，其中：

-借助设置在被施加有压力的膜上的第一传感器装置(C_mess)产生 取决于膜的偏转的测量信号，所述第一传感器装置的电容式传感器 (C_mess)被设置在膜的中心处，以采集膜的中心区域中的偏转，

-借助设置在所述被施加有压力的膜上的第二传感器装置(C_ref) 产生取决于膜的偏转的参考信号，所述第二传感器装置的电容式传感器 (C_ref)被设置在膜的边缘区域中，以采集膜的边缘区域中的偏转，

-借助微处理器(4)根据所述测量信号产生测量值(C_m)，并且根 据所述参考信号产生相应的参考值(C_r)，

其特征在于，

-依据所述测量值，所述参考值(C_r)的期望值的容差带(T)被 存储在所述微处理器(4)的存储器中，以及

-当前产生的参考值(C_r)与容差带(T)中的期望值相比较，并 且

-在一致时，检测到由于压力引起的膜偏转，并且所述测量值 (C_m)作为所测量的压力的测量值被输出，或者

-在不一致时，检测到由快速温度变化引起的膜偏转，用校正值 校正所述测量值(C_m)，并且输出校正后的测量值作为所测量的压力的 测量值。

4.根据权利要求3的方法，其特征在于：

-在所述微处理器(4)的存储器中存储校正值表，该校正值表依据 由快速温度变化引起的测量值变化的变化方向为位于容差带(T)之外 的参考值(C_r)与其期望值之间的每个差值分配一个校正值，并且

-在检测到快速温度变化时，借助所述微处理器(4)用校正表中的 分别分配给参考值(C_r)和对应于测量值的期望值之间的差的校正值来 校正测量值(C_m)。