[发明专利]用于扫瞄触控面板的被动式集成电路架构及其控制方法

说明书

技术领域

本发明涉及一种触控面板，具体地说，是一种扫瞄触控面板的被动式集成电路架构及其控制方法。

背景技术

利用主动式集成电路(Integrated Circuit；IC)架构扫瞄触控面板是一种已知技术，所述主动式IC架构是预先在副(Slave)IC中配置扫瞄参数，例如扫瞄的线迹(Trace)、模式、时机及模拟参数等，所述副IC根据所述扫瞄参数扫瞄所述触控面板，将扫瞄数据传送给一主(Master)IC以进行判断。当触控面板的尺寸增加时，为了减少扫瞄时间，会使用两颗以上的副IC对触控面板的不同区域同时进行扫瞄。由于每颗副IC的扫瞄参数是事先定义的，且因为扫瞄的线迹不同而分别撰写不同的韧体及设定不同的模拟参数，因此每颗副IC均为制式化规格，仅能扫瞄固定的线迹，无法与其它副IC交换使用，亦无法根据其扫瞄结果重新配置新的扫瞄参数对特定区域再次进行扫瞄，除了缺少应用的弹性外，更无法解决鬼点现象(Ghost phenomenon)。

因此已知的主动式集成电路(Integrated Circuit；IC)架构扫瞄触控面板存在着上述种种不便和问题。

发明内容

本发明的目的，在于提出一种用于扫瞄触控面板的被动式集成电路架构及其控制方法。

本发明的另一目的，在于提出一种增加应用弹性的被动式集成电路架构及其控制方法。

本发明的又一目的，在于提出一种解决鬼点现象的被动式集成电路架构及其控制方法以。

为实现上述目的，本发明的技术解决方案是：

一种用于扫瞄触控面板的被动式集成电路架构，其特征在于包括：

一主集成电路；以及

至少一副集成电路，耦接一触控面板与所述主集成电路，用以扫瞄所述触控面板；

其中，所述至少一副集成电路扫瞄所述触控面板的扫瞄参数由所述主集成电路提供。

本发明的用于扫瞄触控面板的被动式集成电路架构还可以采用以下的技术措施来进一步实现。

前述的被动式集成电路架构，其中所述扫瞄参数包括扫瞄的线迹、扫瞄模式及扫瞄模拟参数。

前述的被动式集成电路架构，其中所述扫瞄模式包括循序扫瞄或指定扫瞄。

前述的被动式集成电路架构，其中所述扫瞄模拟参数包括增益、扫瞄时间及位移准位。

前述的被动式集成电路架构，其中所述至少一副集成电路在未接获所述扫瞄参数期间为闲置待命状态。

前述的被动式集成电路架构，其中所述主集成电路接收来自所述至少一副集成电路的扫瞄数据并进行判断，以决定是否重新设定所述至少一副集成电路的扫瞄参数，使所述至少一副集成电路再次扫瞄所述触控面板。

前述的被动式集成电路架构，其中所述重新设定的扫瞄参数包括扫瞄所述触控面板的部分区域。

前述的被动式集成电路架构，其中所述部分区域包括可能发生鬼点现象的区域。

前述的被动式集成电路架构，其中所述至少一副集成电路包括数组电容式触控集成电路。

前述的被动式集成电路架构，其中所述至少一副集成电路具有相同的韧体。

前述的被动式集成电路架构，其中更包括一通用传输接口连接在所述主集成电路及所述至少一副集成电路之间。

前述的被动式集成电路架构，其中所述通用传输接口包括I²C或SPI。

一种用于扫瞄触控面板的被动式集成电路架构的控制方法，其特征在于包括下列步骤：

藉一主集成电路产生一指令；

根据所述指令设定至少一副集成电路扫瞄一触控面板的扫瞄参数；以及

所述至少一副集成电路因应所述指令以所述扫瞄参数扫瞄所述触控面板。

本发明的用于扫瞄触控面板的被动式集成电路架构的控制方法还可以采用以下的技术措施来进一步实现。

前述的方法，其中所述根据所述指令设定所述扫瞄参数的步骤包括设定扫瞄的线迹、扫瞄模式及扫瞄模拟参数。

前述的方法，其中更包括下列步骤：

所述至少一副集成电路将扫瞄数据传送至所述主集成电路；以及

所述主集成电路对所述扫瞄数据进行判断，决定是否产生一第二指令以重新设定所述至少一副集成电路的扫瞄参数，使所述至少一副集成电路根据所述第二指令再次扫瞄所述触控面板。

前述的方法，其中所述再次扫瞄所述触控面板的步骤包括扫瞄所述触控面板中可能发生鬼点现象的区域。

前述的方法，其中更包括经一通用传输接口传送所述指令至所述至少一副集成电路。

前述的方法，其中更包括经一通用传输接口传送所述扫瞄数据至所述主集成电路。