[发明专利]一种测量地层岩性和密度的方法

权利要求书

1.一种测量地层岩性和密度的方法，其特征在于其具体测量步骤为：

根据康普顿散射理论，计算每个能窗的计数率响应如公式(1)所示：

1n(C)＝a1+a2ρe+a3(ρe)²+a4(ρe)³+a5L+a6x3+a7x4           (1)

式中C为探测器能窗计数率；ρe为地层电子密度；L为地层岩性系数；a1、a2、a3、a4、a5、a6、a7为系数；x3和x4泥饼影响项；

1)地层密度的计算

根据公式(1)，建立包含4个未知数：ρe为地层电子密度、L为地层岩性系数、x3泥饼影响项和x4泥饼影响项的若干个非线性方程，方程数量取决于能谱分能窗的数量；每个测量点运用包含4个未知数的非线性方程组进行计算；用最小二乘法求解方程组，得到ρe、L以及x3、x4；得到地层电子密度ρe，地层电子密度转换成地层视体积密度即地层密度ρb的公式如公式(2)所示：

ρb＝1.0704-0.1883                                        (2)

上述方法得到的x3、x4与密度补偿值Δρ之间的关系如公式(3)所示：

Δρ＝d6x3+d7x4                                           (3)

式中d6、d7为常数；

在全谱岩性密度测井中，用地层和泥饼之间的密度差ρp＝d6x3和地层和密度之间的岩性差别Δρm＝d7x4分别作为曲线输出；

2)此外地层岩性计算

利用下列公式计算地层光电指数Pe，如公式(4)所示：其中L为地层岩性系数

Pe＝4464                                                 (4)。