[发明专利]基于JTC的高精度光电混合像移测量装置及其方法有效

专利信息
申请号: 200910218936.0 申请日: 2009-11-13
公开(公告)号: CN102062572A 公开(公告)日: 2011-05-18
发明(设计)人: 易红伟;李英才;李旭阳;马臻;姚大雷;赵惠 申请(专利权)人: 中国科学院西安光学精密机械研究所
主分类号: G01B11/00 分类号: G01B11/00
代理公司: 西安智邦专利商标代理有限公司 61211 代理人: 商宇科;李东京
地址: 710119 陕西省西*** 国省代码: 陕西;61
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摘要:
搜索关键词: 基于 jtc 高精度 光电 混合 测量 装置 及其 方法
【权利要求书】:

1.一种基于JTC的高精度光电混合像移测量装置,包括激光器、设置在该激光器光路上的准直镜、设置在该准直镜的出射光路上的空间光调制器SLM、设置在空间光调制器SLM的出射光路上的傅立叶透镜和用于接收该傅立叶透镜的出射光线的CCD器件,其特征在于:该装置还包括连接于所述CCD器件的输出端的用于结合联合变换功率谱数据进行局部离散傅立叶变换计算、来获得互相关峰邻域的升采样影像的数字处理单元。

2.根据权利要求1所述的基于JTC的高精度光电混合像移测量装置,其特征在于:所述数字处理单元是FPGA。

3.一种基于JTC的高精度光电混合像移测量方法,其特征在于:该方法包括步骤1)通过参考影像和被测影像在SLM上的放置坐标和傅立叶变换的基本属性确定在两幅影像无错位情况下一个理想互相关峰在相关输出面上的坐标。然后,根据被测影像相对于参考影像的错位的变换范围开窗计算以这个理想互相关峰为中心的局部相关输出数据,并初步确定实际互相关峰在相关输出面上的坐标;

步骤2)、以实际互相关峰为中心计算局部相关输出数据,实现该相关输出数据的k倍升采样局部傅立叶变换,从而得到实际互相关峰在1/k个像元精度下的坐标位置,并与理想互相关峰坐标进行比较,获得参考影像和被测影像在1/k个像元精度下的配准数据或像移数据。

4.根据权利要求3所述的基于JTC的高精度光电混合像移测量方法,其特征在于:所述k倍升采样局部傅立叶变换是通过离散傅立叶变换矩阵乘法或分数傅立叶变换实现的。

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