[发明专利]基于聚类的高阶累量交叉熵的SAR图像变化检测方法有效
申请号: | 200910219350.6 | 申请日: | 2009-12-07 |
公开(公告)号: | CN101738607A | 公开(公告)日: | 2010-06-16 |
发明(设计)人: | 焦李成;张小华;张静;侯彪;刘芳;王爽;马文萍;张向荣 | 申请(专利权)人: | 西安电子科技大学 |
主分类号: | G01S7/41 | 分类号: | G01S7/41;G01S13/90;G06T7/00 |
代理公司: | 陕西电子工业专利中心 61205 | 代理人: | 王品华;朱红星 |
地址: | 710071*** | 国省代码: | 陕西;61 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 基于 高阶累量 交叉 sar 图像 变化 检测 方法 | ||
1.一种基于聚类的高阶累量交叉熵的SAR图像变化检测方法,包括如下步 骤:
(1)选取两幅不同时相的SAR图像,对单幅图像以每一个像素为中心选取窗 口作为该中心点的邻域,对窗口内像素进行K均值聚类,根据聚类结果进行类别合 并,确定窗口内类别,提取与中心像素点同属一类的像素点;
(2)将步骤(1)中提取出的第一幅图的像素点个数n1和第二幅图的像素点个 数n2进行个数一致性处理,如果n1<n2,则在第二幅图窗口中计算所有与窗口中心 点同类的像素点与窗口中心点的欧式距离,并选取n1个欧式距离最小的像素点作为 第二幅图窗口的像素点;如果n1>n2,则在第一幅图窗口中计算所有与窗口中心点 同类的像素点与窗口中心点的欧式距离,并选取n2个欧式距离最小的像素点作为第 一幅图窗口的像素点,以处理后的两组像素点作为样本点进行基于高阶累量的交叉 熵计算,得到变化差异图;
(3)对每一个像素点重复步骤(1)~(2),得到一幅变化差异图;
(4)对得到的变化差异图用最大类间方差阈值方法取阈值,得到包含目标像 素点的二值图像;
(5)在二值图像中以每一个像素为中心选取窗口边长为L的正方形窗口,窗 口内像素个数为L2;
(6)计算窗口内部包含的目标像素点的个数N,如果N>L+1,则确认此窗 口中心像素是目标像素点;如果N≤L+1,计算与窗口中心像素点相连通的目标像 素点的个数n,如果n>(L+1)/2,则确认此窗口中心像素点是目标像素点,如果 n≤(L+1)/2,则将此窗口中心像素点标记为被错误检测的像素点,将所有被标记 的像素点的像素值设为0;
(7)重复步骤(5)~(6),对每一个像素点进行判断,得到最终的变化检 测结果图。
2.根据权利要求1所述的基于聚类的高阶累量交叉熵的SAR图像变化检测方 法,其中步骤(1)所述的对窗口内像素进行K均值聚类,是先取原SAR图像边长 的1/6作为窗口大小;再采用K均值聚类方法,将窗口内像素聚为M个类别, M∈[6,10]。
3.根据权利要求1所述的基于聚类的高阶累量交叉熵的SAR图像变化检测方 法,其中步骤(1)所述的对窗口内像素进行K均值聚类,根据聚类结果进行类别 合并,按如下步骤进行:
3a)计算各类内像素的均值,按均值大小将各类排序,将排序后的各类别均 值记为μi(i=1,2,…,M);
3b)计算相邻的两个类别的均值之差Δμij((i,j)=(1,2),(2,3),…,(M-1,M))和 全部相邻类别的均值之差的均值μ;
3c)比较相邻的两个类别的均值之差Δμij((i,j)=(1,2),(2,3),…,(M-1,M))与 均值之差的均值μ,如果第i类和第j类的均值之差Δμij小于0.8μ或大于1.2μ,则 将i和j合并为一类,否则不合并。
4.根据权利要求1所述的基于聚类的高阶累量交叉熵的SAR图像变化检测方 法,其中步骤(2)所述的基于高阶累量的交叉熵计算得到变化差异图,按如下步 骤进行:
4a)计算两个对应窗口像素集合X的概率密度fX和集合Y的概率密度fY:
其中,KX;n为集合X的n阶矩mX;n组成的表达式:
KX;1=mX;1
(5C)
KY;n为集合Y的n阶矩mY;n组成的表达式:
KY;1=mY;1
(5D)
Hn(x)是n阶切比雪夫多项式,由下式计算:
(5G)
GX(x)和GY(x)分别为与集合X合集合Y同均值同方差的高斯函数;
4b)将集合X和Y的概率密度fX和fY概率密度代入交叉熵方程:
KLD=K(Y|X)+K(X|Y)
得到的KLD值作为窗口中心像素点的熵值,此熵值作为变化差异图对应像素点 的像素值;
4c)重复步骤4b),对每一个像素点进行计算,得到变化差异图。
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