[发明专利]信道估计方法和装置有效
申请号: | 200910221113.3 | 申请日: | 2009-11-03 |
公开(公告)号: | CN101753489A | 公开(公告)日: | 2010-06-23 |
发明(设计)人: | 吴更石;花梦;张春玲;焦淑蓉;彭秀琴 | 申请(专利权)人: | 华为终端有限公司 |
主分类号: | H04L25/02 | 分类号: | H04L25/02;H04B1/707 |
代理公司: | 北京同立钧成知识产权代理有限公司 11205 | 代理人: | 刘芳 |
地址: | 518129 广东省*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 信道 估计 方法 装置 | ||
1.一种信道估计方法,其特征在于,包括:
对导频信道进行多径搜索,并对所述多径搜索的径位置上的信道估计值 进行插值;
对插值后的信道估计值进行升余弦反卷积;
根据升余弦反卷积后的信道估计值和所述多径搜索获得的采样偏差,获 得所述导频信道中各径位置上的信道估计值;
其中,所述根据升余弦反卷积后的信道估计值和所述多径搜索获得的采 样偏差,获得所述导频信道中各径位置上的信道估计值包括:
对升余弦反卷积后的信道估计值进行升余弦卷积,所述升余弦卷积的采 样率与所述升余弦反卷积的采样率相同;将升余弦卷积后的信道估计值与加 窗截短之后的Sinc系数进行卷积,获得所述导频信道中各径位置上的信道估 计值,或者,
所述根据升余弦反卷积后的信道估计值和所述多径搜索获得的采样偏 差,获得所述导频信道中各径位置上的信道估计值包括:
对升余弦反卷积后的信道估计值进行升余弦卷积,所述升余弦卷积的采 样率高于所述升余弦反卷积的采样率;在所述升余弦卷积后的信道估计值中, 根据所述多径搜索获得的采样偏差选择所述导频信道中各径位置上的信道估 计值。
2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述对所述多径搜索的径 位置上的信道估计值进行插值包括:
对所述多径搜索的径位置上的信道估计值进行有限长截短的Sinc插值。
3.根据权利要求2所述的方法,其特征在于,所述对所述多径搜索的径 位置上的信道估计值进行有限长截短的Sinc插值包括:
将所述多径搜索的径位置上的信道估计值和所述径位置相邻径的信道估 计值,与加窗截短之后的Sinc系数进行卷积。
4.一种信道估计装置,其特征在于,包括:
搜索模块,用于对导频信道进行多径搜索;
插值模块,用于对所述多径搜索的径位置上的信道估计值进行插值;
升余弦反卷积模块,用于对所述插值模块插值后的信道估计值进行升余 弦反卷积;
信道估计值获得模块,用于根据所述升余弦反卷积模块进行升余弦反卷 积后的信道估计值和所述多径搜索获得的采样偏差,获得所述导频信道中各 径位置上的信道估计值,其中,
所述信道估计值获得模块包括:第一升余弦卷积子模块和获得子模块; 或者,所述信道估计值获得模块包括:第二升余弦卷积子模块和选择子模块;
所述第一升余弦卷积子模块,用于对升余弦反卷积后的信道估计值进行 升余弦卷积,所述升余弦卷积的采样率与所述升余弦反卷积的采样率相同;
所述获得子模块,用于将升余弦卷积后的信道估计值与加窗截短之后的 Sinc系数进行卷积,获得所述导频信道中各径位置上的信道估计值;所述第 二升余弦卷积子模块,用于对升余弦反卷积后的信道估计值进行升余弦卷积, 所述升余弦卷积的采样率高于所述升余弦反卷积的采样率;
所述选择子模块,用于在所述升余弦卷积后的信道估计值中,根据所述 多径搜索获得的采样偏差选择所述导频信道中各径位置上的信道估计值。
5.根据权利要求4所述的装置,其特征在于,所述插值模块包括:
Sinc插值子模块,用于对所述多径搜索的径位置上的信道估计值进行有 限长截短的Sinc插值。
6.根据权利要求5所述的装置,其特征在于,所述Sinc插值子模块包 括第一Sinc插值子模块,用于将多径搜索的径位置的信道估计值和该径位置 的相邻径的信道估计值,与加窗截短之后的Sinc系数进行卷积。
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