[发明专利]电子装置及其测试方法

说明书

技术领域

本发明关于一种电子装置及其测试方法，并且特别地，本发明关于一种电子装置以及用以测试电子装置的硬件功能的测试方法。

背景技术

由于科技的快速进步以及人们对于电子装置的需求日益提高，电子装置的生产速度以及制造良率便成为投资者以及消费大众评价制造厂商的重要指标。所以，如何加快电子装置的生产速度并减少电子装置出货时的缺陷，已经成为所有制造厂商的重要课题。

一般来说，加快电子装置的生产速度的众多方法中，简化生产流程是一个很有效的方法。藉由简化生产流程可以去除不必要的生产步骤以节省时间，并且缩小生产线的长度以节省空间，并免除不必要的设备的使用。同时，简化生产流程也可减少人力的使用，并提高员工的工作效率。

进一步，在电子装置出货之前，往往会先经过制造厂商一连串的测试程序，用以确保电子装置可以正常运作。另一方面，一个可以正常运作的电子装置代表的不仅是使用者的权益受到保障，更是一家制造厂商良好的商誉。

传统的电子装置的测试方法中，为了进行电子装置的测试程序，首先需安装测试程序于电子装置中，例如：安装于电子装置的NAND存储体中。因为测试程序不应随着电子装置被交给使用者，所以，当电子装置的测试程序完成后，要进行移除测试程序的步骤。但用以移除测试程序的移除程序往往被储存在其他的储存装置中，例如储存在测试电脑中。

为了电子装置的稳定以及避免人员操作错误，在连接电子装置与测试电脑之前必须先以手动关闭电子装置。接着，将电子装置透过连接线与测试电脑连接后，再以手动启动电子装置，并执行测试电脑中的移除程序来移除电子装置中的测试程序。一般来说，可用通用串行总线(USB)进行上述的连接电子装置与测试电脑。

此外，在移除程序未完全操作结束时，将电子装置自测试电脑卸下可能对电子装置的储存单元或系统文件造成损害。一般的情况下，都会将电子装置关闭后再将电子装置连接测试电脑，或自测试电脑卸下。如此一来，虽然确保了电子装置可以正常运作，但测试流程却因此非常繁琐。

随后，执行移除程序以移除测试程序。在正确移除测试程序之后，同上述理由，必须先以手动关闭电子装置，再卸下电子装置。最后，再次以手动启动电子装置以便执行后续的测试，例如电子装置的操作系统测试、软件测试等等。

综上所述，传统的电子装置的测试方法为了确保电子装置不会因测试造成损坏，因此包含了许多重复的步骤，例如，反复开启/关闭电子装置。所以在电子装置的生产过程中，如何可以兼顾电子装置的品质以及生产速度，将是一个重要的课题。

发明内容

有鉴于此，本发明的一个目的在于提供一种测试方法，可以在电子装置的测试程序执行完成后，直接移除上述测试程序所使用的测试程序，而电子装置不需外接具有移除程序的测试电脑。

依据一具体实施例，本发明的测试方法适用于电子装置，且该测试方法包含下列步骤：于电子装置安装第一测试程序以及移除程序；执行第一测试程序；执行移除程序，以移除第一测试程序；关闭电子装置。

于实际应用中，前述第一测试程序用以测试电子装置的硬件功能。

再者，在实际应用中，前述的执行移除程序的步骤中，还包含下列步骤：判断第一测试程序是否执行完成；若第一测试程序执行完成，执行移除程序，以移除第一测试程序。

另外，于实际应用中，前述的关闭电子装置的步骤中，还包含下列步骤：判断移除程序是否执行完成；若移除程序执行完成，关闭该电子装置。其中，若上述判断移除程序是否执行完成的判断结果为是，本发明的方法可关闭并重新启动电子装置。此外，若上述判断移除程序是否执行完成的判断结果为是，且接收到由使用者输入的重启讯号时，本发明的方法可关闭并重新启动电子装置。进一步，本发明的方法还可执行第二测试程序，以测试电子装置的操作系统。

本发明的另一个目的在于提供一种电子装置，可以在本身的测试程序执行完成之后，直接移除上述测试程序所使用的测试程序，而不需透过外接的测试装置来移除测试程序。

依据一具体实施例，本发明的电子装置包含存储模组、执行模组以及处理模组。存储模组用以储存第一测试程序以及移除程序。执行模组连接存储模组，且执行模组用以执行第一测试程序，且当第一测试程序执行完成后，执行模组进一步执行移除程序以移除第一测试程序。当移除程序执行完成后，执行模组发送确认讯号。此外，处理模组连接执行模组，且处理模组用以接收确认讯号，并根据确认讯号关闭电子装置。