[发明专利]抗静电剂、抗静电膜及抗静电膜被覆物有效
申请号: | 200910224857.0 | 申请日: | 2007-01-31 |
公开(公告)号: | CN101696351A | 公开(公告)日: | 2010-04-21 |
发明(设计)人: | 西冈绫子;大久保隆 | 申请(专利权)人: | 昭和电工株式会社 |
主分类号: | C09K3/16 | 分类号: | C09K3/16;G03F7/09 |
代理公司: | 北京市中咨律师事务所 11247 | 代理人: | 段承恩;田欣 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 抗静电 被覆 | ||
1.一种抗静电剂,含有水溶性导电高分子、溶剂及作为具有聚乙烯 基结构的水溶性高分子的聚乙烯基己内酰胺。
2.权利要求1所述的抗静电剂,进一步含有表面活性剂。
3.权利要求1所述的抗静电剂,其中含有0.1~20质量%的水溶性导 电高分子、0.0001~10质量%的具有聚乙烯基结构的水溶性高分子及 70.0~99.8质量%的溶剂。
4.权利要求2所述的抗静电剂,其中含有0.1~20质量%的水溶性导 电高分子、0.0001~10质量%的具有聚乙烯基结构的水溶性高分子、 0.0001~2质量%的表面活性剂及68.0~99.8质量%的溶剂。
5.权利要求1所述的抗静电剂,其中水溶性导电高分子是具有布朗斯 台德Bronsted酸基或其盐的π共轭型导电性高分子。
6.权利要求5所述的抗静电剂,其中布朗斯台德Bronsted酸基为磺 酸基。
7.权利要求1所述的抗静电剂,其中水溶性导电高分子含有下述式(1) 所示的化学结构,
式中,m、n各自独立地表示0或1,X表示S、N-R1或O中的任一种,
其中,R1表示选自氢原子、碳数为1~20的直链状或支链状的饱和或不饱 和烃基、苯基及取代苯基的基团,A表示具有至少一个-B-SO3-M+表示 的取代基,且还可以具有其它取代基的碳数为1~4的亚烷基或亚烯基,可 以具有2个以上的双键,B表示-(CH2)p-(O)q-(CH2)r-,p及 r各自独立地表示0或13的整数,q表示0或1,M+表示氢离子、碱金 属离子或季铵离子。
8.权利要求1所述的抗静电剂,其中水溶性导电高分子含有下述式(2) 所示的化学结构,
式中,R2~R4各自独立地表示氢原子、碳数为1~20的直链状或支链状的饱 和或不饱和烃基、碳数为1~20的直链状或支链状的饱和或不饱和烷氧基、 羟基、卤素原子、硝基、氰基、三卤甲基、苯基、取代苯基或-B-SO3-M+基,B表示-(CH2)p-(O)q-(CH2)r-,p及r各自独立地表示0 或1~3的整数,q表示0或1,M+表示氢离子、碱金属离子或季铵离子。
9.权利要求8所述的抗静电剂,其中水溶性导电高分子是含有5-磺基 异硫茚-1,3-二基的聚合物。
10.权利要求1所述的抗静电剂,其中水溶性导电高分子含有下述式 (3)所示的化学结构,
式中,R5表示氢原子、碳数为1~20的直链状或支链状的饱和或不饱和烃 基、碳数为1~20的直链状或支链状的饱和或不饱和烷氧基、羟基、卤素 原子、硝基、氰基、三卤甲基、苯基、取代苯基或-B-SO3-M+基,B表 示-(CH2)p-(O)q-(CH2)r-,p及r各自独立地表示0或1~3的 整数,q表示0或1,M+表示氢离子、碱金属离子或季铵离子。
11.使用权利要求1~10中任一项所述的抗静电剂获得的抗静电膜。
12.用权利要求11所述的抗静电膜被覆而获得的被覆物。
13.权利要求12所述的被覆物,其中被覆表面是涂布于衬底基板上的 感光性树脂组合物或可感应带电粒子束的组合物。
14.一种图案形成方法,其特征在于使用权利要求11所述的抗静电膜。
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