[发明专利]图像传感器及其制造方法无效

专利信息
申请号: 200910225020.8 申请日: 2009-11-24
公开(公告)号: CN101764093A 公开(公告)日: 2010-06-30
发明(设计)人: 朴正秀 申请(专利权)人: 东部高科股份有限公司
主分类号: H01L21/8234 分类号: H01L21/8234;H01L27/146
代理公司: 隆天国际知识产权代理有限公司 72003 代理人: 姜燕;邢雪红
地址: 韩国*** 国省代码: 韩国;KR
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要:
搜索关键词: 图像传感器 及其 制造 方法
【权利要求书】:

1.一种方法,包括以下步骤:

在半导体衬底中形成沟槽;

在所述沟槽中形成具有倾斜曲面的第一反射部;

在所述第一反射部上方形成第二反射部,使得所述沟槽的剩余空间由所述第二反射部填充;以及

在所述衬底的邻近沟槽的区域上形成垂直型光电二极管。

2.根据权利要求1所述的方法,其中,所述沟槽形成于P型外延层中,所述光电二极管也形成于所述P型外延层中。

3.根据权利要求1所述的方法,其中,形成所述第一反射部的步骤包括:

在所述沟槽中填充第一材料溶液;

倾斜所述半导体衬底,使得所述第一材料溶液的表面沿所述沟槽的壁的对角线方向延伸;以及

固化所述第一材料溶液,由此获得所述第一反射部。

4.根据权利要求1所述的方法,其中,形成所述第二反射部的步骤包括:

在所述沟槽的位于所述第一反射部上方的剩余空间中填充第二材料溶液;以及

固化所述第二材料溶液,由此获得所述第二反射部。

5.根据权利要求1所述的方法,其中形成所述光电二极管的步骤包括:

形成暴露了所述半导体衬底的介于所述沟槽之间的中心区域的第一光致抗蚀剂图案;

通过使用所述第一光致抗蚀剂图案作为掩模而执行第一离子注入工艺,形成所述光电二极管;以及

移除所述第一光致抗蚀剂图案。

6.根据权利要求1所述的方法,还包括以下步骤:

在包括所述第一反射部和第二反射部的反射区的第一横侧形成传输晶体管的栅极,使得所述传输晶体管的栅极连接至形成于所述反射区第一横侧的所述光电二极管;

在所述反射区的第二横侧形成多个晶体管,其中,所述第二横侧邻近形成所述光电二极管的第一横侧;以及

在所述半导体衬底的介于所述晶体管和所述栅极之间的区域上形成浮置扩散层。

7.一种图像传感器,包括:

半导体衬底,所述半导体衬底限定了沟槽;

第一反射部,形成在所述沟槽中,且所述第一反射部具有倾斜曲面;

第二反射部,形成在所述第一反射部上方,使得所述沟槽的剩余空间由所述第二反射部填充;以及

垂直型光电二极管,形成在所述衬底的邻近所述沟槽的区域中。

8.根据权利要求7所述的图像传感器,还包括:

传输晶体管的栅极,形成在包括所述第一反射部和第二反射部的反射区的第一外侧,使得所述传输晶体管的栅极连接至形成于所述反射区的第一横侧的所述光电二极管;

多个晶体管,设置在所述反射区的第二横侧,其中,所述第二横侧邻近形成所述光电二极管的第一横侧;以及

浮置扩散层,形成在所述半导体衬底的介于所述晶体管和所述栅极之间的区域上。

9.根据权利要求7所述的图像传感器,其中,两个反射区、两个光电二极管和两个传输晶体管被设置为构成一个单元像素,且所述两个传输晶体管的栅极共享形成于所述传输晶体管的栅极下方的浮置扩散层。

10.根据权利要求9所述的图像传感器,其中,所述晶体管以预定的时间间隔对从所述两个光电二极管产生的信号进行交替采样。

下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于东部高科股份有限公司,未经东部高科股份有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/200910225020.8/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top