[发明专利]存储设备硬件调试的方法及系统有效
申请号: | 200910235297.9 | 申请日: | 2009-09-30 |
公开(公告)号: | CN101697285A | 公开(公告)日: | 2010-04-21 |
发明(设计)人: | 邵宗有;聂华;历军;郑规 | 申请(专利权)人: | 曙光信息产业(北京)有限公司 |
主分类号: | G11C29/00 | 分类号: | G11C29/00;G11C29/56 |
代理公司: | 北京市德恒律师事务所 11306 | 代理人: | 梁永 |
地址: | 100084 北*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 存储 设备 硬件 调试 方法 系统 | ||
技术领域
本发明涉及计算机技术领域,更具体地涉及存储设备的硬件调试技术。
背景技术
随着材料科学的发展以及一些应用对存储带宽和延迟的较高需求,一 些新的高速存储设备逐渐被研究开发出来,如闪存(Flash Memory)、固 态硬盘(SSD:Solid State Disk)以及基于内存颗粒的存储设备等,以弥补 磁盘性能的不足。这一类产品尚无足够的技术积累,而且本身高带宽低延 迟的特性也容易导致缺陷(Bug)的产生。产生一次缺陷通常对应于某一种 读写模式(Pattern),开发者经常需要利用这一序列来重现缺陷进行调试。
为了较全面地对一个开发中的存储产品进行测试和调试,采用确定的 读写序列作为输入往往不能较好地覆盖所有可能的问题。将存储设备接入 真实的计算机系统,由多种应用程序、基准测试程序(Benchmark)通过操 作系统对该设备发送读写请求,是比较好的检测方法。然而由于操作系统 进程调度、I/O调度等服务的不确定性,能够导致一次设备缺陷的读写模式 很难被记录并重现。本发明解决了这一问题,可以在操作系统内核中以较 小的开销来记录和重现导致存储设备bug产生的读写模式。
现有技术有两种途径可以一定程度上解决这种问题:硬件发包器或者 软件构造读写模式。前者直接对设备控制器发送特定的读写序列,并检测 结果。一般的检测方式都是先向某一位置写,然后再读进行比较,从而判 断功能上是否正常。这意味着对于所有写操作,必须保存其所写入的内容, 为之后的读校验提供基准。如果导致一次bug产生需要大量的不同位置的 写操作,那么发包器很难拥有大的空间来保存之前写的内容。因此,一种 替代的方案即用软件来构造读写序列,通过操作系统对设备进行访问。这 种方法只能勉强适用于模式比较规整的读写,比如顺序写、顺序读、逆序 写、逆序读等。随机的读写序列在操作系统中会被重排,即使是前述规整 的读写也可能被重排。
因此,目前需要一种不依赖于读写序列的硬件调试技术。
发明内容
为了解决上述问题之一,本发明提出了一种存储设备硬件调试的方法, 包括以下步骤:建立被调试存储设备的镜像,该镜像的存储单元与被调试 存储设备的存储单元一一映射;对被调试存储设备和镜像进行读写操作; 根据镜像定位被调试存储设备的缺陷。
根据本发明的实施例,对被调试存储设备和镜像进行读写操作包括: 在对被调试存储设备进行写操作时,对镜像中的相应的存储单元进行相同 的写操作;在对被调试存储设备中的存储单元进行读操作时,读取镜像中 相应的存储单元的数据。
根据本发明的实施例,根据镜像定位被调试存储设备的缺陷的步骤包 括:将被调试存储设备中读取的数据与镜像中相应的存储单元进行对比, 若不一致则报错。
根据本发明的实施例,对被调试存储设备和镜像进行写操作包括:在 镜像中设置位图,该位图指示被调试存储设备的相应的存储单元是否进行 过写操作。
根据本发明的实施例,对被调试存储设备进行写操作包括:检查被调 试存储设备相应的存储单元所对应的位图,如果位图指示存储单元未进行 过写操作,则在镜像中申请一个新的存储单元,对新的存储单元进行写操 作,并将对应的位图置位。
根据本发明的实施例,对被调试存储设备和镜像进行读操作包括:根 据位图判断存储设备的相应的存储单元是否进行过写操作;如果存储单元 进行过写操作,则读取存储设备和镜像中相对应的存储单元的数据。
根据本发明的实施例,根据镜像定位被调试存储设备的缺陷包括:如 果存储单元未进行过写操作,则报错;如果存储设备和镜像中相对应的存 储单元的数据不一致,则报错。
根据本发明的实施例,该方法还包括:记录读写请求的序列,并将读 写请求所对应的镜像中的存储单元的数据按时间备份。
根据本发明的实施例,镜像设置于虚拟磁盘或物理磁盘上。
本发明还提出了一种存储设备硬件调试的系统,包括中央处理器、被 调试存储设备和被调试存储设备的镜像,镜像的存储单元与被调试存储设 备的存储单元一一映射。其中,中央处理器用于对被调试存储设备和镜像 进行读写操作,并根据镜像定位被调试存储设备的缺陷。
本发明所提出的存储设备硬件调试的方法及系统,可以辅助高速设备 的硬件调试,使调试难度降低,缩减硬件的开发周期。
附图说明
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