[发明专利]一种光学条纹正弦性评测方法无效

专利信息
申请号: 200910236216.7 申请日: 2009-10-23
公开(公告)号: CN101694376A 公开(公告)日: 2010-04-14
发明(设计)人: 赵慧洁;姜宏志;李冬;李旭东;周杰 申请(专利权)人: 北京航空航天大学
主分类号: G01B11/25 分类号: G01B11/25
代理公司: 北京慧泉知识产权代理有限公司 11232 代理人: 王顺荣;唐爱华
地址: 100191 北京市海淀区*** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 一种 光学 条纹 正弦 评测 方法
【权利要求书】:

1.一种光学条纹正弦性评测方法,其特征在于:包括以下步骤:

(1)将投射器出射的条纹投于光屏上,调整投射器相移控制参数,使条纹按照一定相位间隔P进行多次等间隔连续移相,每次移相后用相机拍摄光屏上的条纹,获得条纹图像序列1mg;

(2)根据移相先后顺序,在条纹图像序列1mg中的每幅图像上,提取同一坐标(x,y)的灰度值,作为图像灰度数组h1;再将每幅图像对应的移相次数i与相位间隔P相乘,得到与图像灰度数组h1对应的相移数组t1;根据图像灰度数组h1和相移数组t1,采用最小二乘曲线拟合的方法,按照下面公式,计算标准正弦条纹表达式,

其中,A、B和为需要求取的未知数,A为以图像灰度来表达的正弦曲线的幅值,B为以图像灰度来表达的正弦曲线的直流分量,为以图像灰度来表达的正弦曲线的初始相位;

并由A、B和计算标准正弦条纹的在相移数组t1上的灰度值数组h2,

(3)按照下面公式计算条纹灰度误差数组e

e=h2-h1

再计算误差数组e的标准差StdH,则投射器出射的光学条纹的误差标准差Std为

Std=StsHA×100%]]>

以误差标准差Std作为比较和评测光学条纹正弦性好坏的标准。

2.根据权利要求1所述的一种光学条纹正弦性评测方法,其特征在于:所述的步骤(1)中的投射器、相机和光屏的位置和姿态,在多次条纹移相和相机拍摄过程中,保持不变。

3.根据权利要求1所述的一种光学条纹正弦性评测方法,其特征在于:所述的步骤(1)中的移相和拍摄的次数为2π/P,P为相位间隔。

4.根据权利要求1所述的一种光学条纹正弦性评测方法,其特征在于:所述的步骤(1)中的相位间隔P小于或等于π/4。

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