[发明专利]大地电磁探测仪性能评价方法

权利要求书

1.一种大地电磁探测仪性能评价方法，其特征是采用一下步骤实现：

1)将MT仪的电场和磁场信号输入端全部与信号地端连接或通过低噪音电阻连接，采集时间序列数据1，采集时间为8-192小时；

2)将MT仪电场和磁场信号的输入端接入相同信号，采集时间序列数据2，采集时间为4～96小时；

3)按修改的周期图法对时间序列数据1和时间序列数据2进行功率谱计算，得到时间序列数据1内各通道信号的自功率谱和各通道信号之间的互功率谱，以及时间序列数据2内各通道信号的自功率谱和各通道信号之间的互功率谱；

4)根据时间序列数据1的自功率谱和互功率谱计算出MT仪任意两个通道x，y之间的相关函数1、信噪比1、和噪声功率谱1；据时间序列数据2的自功率谱和互功率谱计算出MT仪任意两个通道x，y之间的相关函数2、信噪比2、和噪声功率谱2；

5)由相关函数1和信噪比1确定MT仪相关干扰；由噪声功率谱1和噪声功率谱2确定MT仪随机噪音；由相关函数2和信噪比2确定MT仪信噪比，MT仪随机噪音强度、相关干扰强度和信噪比的计算分别如下：

MT仪随机噪音强度＝1×噪声功率谱2       (4)

MT仪相关干扰强度＝1×信噪比1           (5)

MT仪信噪比＝20log(2ⁿ/噪声功率谱2)      (6)

式(6)中的n为MT仪A/D转换器的位数。

2.根据权利要求1所述的大地电磁探测仪性能评价方法，其特征是步骤1)所述的低噪音电阻的优选阻值为500欧姆。

3.根据权利要求1所述的大地电磁探测仪性能评价方法，其特征是步骤1)所述的采集信号时间优选为24小时。

4.根据权利要求1所述的大地电磁探测仪性能评价方法，其特征是步骤2)所述的接入信号是天然的大地电磁探测信号或方波信号或白噪音信号或其它信号发生器产生的特殊波形。

5.根据权利要求1所述的大地电磁探测仪性能评价方法，其特征是步骤2)所述的信号优选为白噪音信号。

6.根据权利要求1所述的大地电磁探测仪性能评价方法，其特征是步骤2)所述的采集时间优选值为12小时。

7.根据权利要求1所述的大地电磁探测仪性能评价方法，其特征是步骤3)所述的功率谱计算所采用的窗口有哈明窗或汉宁窗或布莱克曼窗和凯撒窗。

8.根据权利要求1所述的大地电磁探测仪性能评价方法，其特征是步骤3)所述的功率谱计算所采用的优选窗口为哈明窗。

9.根据权利要求1所述的大地电磁探测仪性能评价方法，其特征是步骤4)所述的利用自功率谱和互功率谱分别计算任意两个通道x，y之间的相关函数、信噪比和噪声功率谱的算式如下：

Γxy2(z)=|Φxy(z)|2Φxx(z)Φyy(z)=11+1/SNR(z)---(1)]]>

SNR(z)=Φxx(z)Φnn(z)=Γxy2(z)1-Γxy2(z)---(2)]]>

Φnn(z)=Φxx(z)[Γxy2(z)-1]---(3)]]>

式中：

为两个通道x，y之间的传递函数，

SNR(z)为两个通道x，y之间的信噪比；

Φ_nn(z)为两个通道x，y之间的噪声功率谱；

Φ_xy(z)为两个通道x，y之间的互功率谱；

Φ_xx(z)为两个通道中第一通道x的自功率谱；

Φ_yy(z)为两个通道中第二通道y的自功率谱。