[发明专利]一种高度测量方法、装置及监控系统有效
申请号: | 200910238380.1 | 申请日: | 2009-12-02 |
公开(公告)号: | CN101876535A | 公开(公告)日: | 2010-11-03 |
发明(设计)人: | 王磊;谢东海;黄英 | 申请(专利权)人: | 北京中星微电子有限公司 |
主分类号: | G01B11/03 | 分类号: | G01B11/03;H04N7/18 |
代理公司: | 北京银龙知识产权代理有限公司 11243 | 代理人: | 许静 |
地址: | 100083 北京市*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 高度 测量方法 装置 监控 系统 | ||
1.一种高度测量方法,其特征在于,包括:
获取图像拍摄装置拍摄的第一图像,所述第一图像中包括出现在所述图像拍摄装置的摄像区域内的待测目标;所述图像拍摄装置的拍摄参数固定;
确定所述待测目标的最高点和最低点在所述第一图像内的坐标;
根据获取的所述待测目标的最高点和最低点在所述第一图像内的坐标以及一图像参数计算所述待测目标的实际高度。
2.根据权利要求1所述的高度测量方法,其特征在于,所述图像参数包括所述图像拍摄装置所拍摄的图像的灭线方程、灭点坐标以及比例系数α。
3.根据权利要求2所述的高度测量方法,其特征在于,所述待测目标的实际高度hx如下:
其中:
·表示计算向量的内积;
×表示计算向量的外积;
||·||表示向量的范数;
是所述灭线方程;
vx是所述灭点坐标;
bx是所述待测目标的最低点坐标;
tx是所述待测目标的最高点坐标。
4.根据权利要求2或3所述的高度测量方法,其特征在于,所述待测目标的最高点和最低点的坐标根据如下方式确定:
获取所述图像拍摄装置拍摄的至少一张不包括所述待测目标的图像作为背景图像;
使用背景差分法分析第一图像和所述背景图像,确定所述待测目标在所述第一图像中的像素点集合;
将一矩形框的顶部中点的坐标作为待测目标最高点的坐标,并将矩形框的底部中点的坐标作为待测目标最低点的坐标,所述矩形框包围所述像素点集合构成的区域。
5.根据权利要求2或3所述的高度测量方法,其特征在于,所述图像参数通过如下方式获取:
获取所述图像拍摄装置拍摄的在图像拍摄装置的摄像区域内运动的第一参考物体的至少3个第二图像;
确定所述第一参考物体的最高点和最低点在每一个第二图像中的坐标;
根据所述第一参考物体的最高点和最低点在每一个第二图像中的坐标计算所述图像拍摄装置所拍摄的图像的灭线方程和灭点坐标;
根据所述第一参考物体的实际高度、灭线方程、灭点坐标、以及任意一个第二图像中参考物体的最高点和最低点的坐标计算α。
6.根据权利要求2或3所述的高度测量方法,其特征在于,所述图像参数通过如下方式获取:
获取所述图像拍摄装置拍摄的第三图像,所述第三图像中包括位于摄像区域内的不同位置的至少3个相同的第二参考物体;
确定所述至少3个相同的第二参考物体中的每一个所述第二参考物体的最高点和最低点在所述第三图像中的坐标;
根据所述至少3个相同的第二参考物体的最高点和最低点在所述第三图像中的坐标计算所述图像拍摄装置所拍摄的图像的灭线方程和灭点坐标;
根据所述第三参考物体的实际高度、灭线方程、灭点坐标、以及任意一个所述第三参考物体的最高点和最低点在所述第三图像中的坐标计算比例系数α。
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