[发明专利]一种确定基站天线角度的方法及设备

权利要求书

1.一种确定基站天线角度的方法，其特征在于，所述方法包括：

从设定区域中确定多个导频污染子区，并分别确定向每个导频污染子区发射导频信号的基站天线；

针对每个导频污染子区，确定该导频污染子区中的污染基站天线，所述污染基站天线是向该导频污染子区发射导频信号的基站天线中除发射功率最强的基站天线之外的基站天线；

确定在至少一个导频污染子区转换为无导频污染子区时，对各污染基站天线调整的下倾角。

2.如权利要求1所述的方法，其特征在于，从设定区域中确定导频污染子区，包括：

从所述设定区域中选择一个待处理子区；

分别确定待处理子区通过主公共控制物理信道PCCPCH获得的导频信号，其中，每个导频信号是一个基站天线向该待处理子区发射的；

在待处理子区获得的导频信号中，至少N个导频信号满足以下条件时，将该待处理子区作为导频污染子区：

N个导频信号中，每个导频信号的强度不小于设定的第一门限值，并且，任意两个导频信号的强度之差的绝对值不大于第二门限值；

其中：N为自然数，且N不大于待处理子区获得的导频信号总数，也不小于第一设定数量。

3.如权利要求2所述的方法，其特征在于，待处理子区通过PCCPCH获得导频信号之前，所述方法还包括：

基站天线按照自身实际运行时需要的发射功率，或者按照基站天线的最大发射功率，通过PCCPCH向子区发射导频信号。

4.如权利要求1所述的方法，其特征在于，确定对各污染基站天线调整的下倾角之后，所述方法还包括：

根据确定的污染基站天线调整的下倾角对污染基站天线的下倾角进行调整后，确定设定区域中的导频污染子区数量；

在确定的导频污染子区数量不小于第二设定数量时，确定对各污染基站天线调整的下倾角和方位角。

5.如权利要求4所述的方法，其特征在于，

通过优良算法确定污染基站天线调整的下倾角，以及通过优良算法确定污染基站天线调整的下倾角和方位角。

6.如权利要求5所述的方法，其特征在于，通过优良算法确定污染基站天线调整的下倾角，包括：

根据预先设定的多个下倾角调整幅度，分别确定在按照每个下倾角调整幅度进行下倾角调整时的适应性参数；

将最小的适应性参数对应的下倾角调整幅度作为确定的污染基站天线调整的下倾角。

7.如权利要求6所述的方法，其特征在于，进行下倾角调整时的适应性参数通过以下公式确定：

其中：f_下倾角表示进行下倾角调整时的适应性参数；C_min是常数；N表示当前导频污染子区的数量；α表示加权系数；V_i表示第i个基站天线按照设定的下倾角调整幅度调整后的下倾角，V_i0表示第i个基站天线按照在未调整前的下倾角；i的取值为1～n，n表示导频污染子区的污染基站天线数量。

8.如权利要求5所述的方法，其特征在于，通过优良算法确定污染基站天线调整的下倾角和方位角，包括：

确定多个角度调整组，其中每个角度调整组包含一个下倾角调整幅度和一个方位角调整幅度；

分别确定在按照每个角度调整组中下倾角调整幅度和方位角调整幅度进行下倾角和方位角调整时的适应性参数；

将最小的适应性参数对应的角度调整组作为确定的污染基站天线调整的下倾角和方位角。

9.如权利要求8所述的方法，其特征在于，进行下倾角和方位角调整时的适应性参数通过以下公式确定：

其中：f_{下倾角和方位角}表示进行下倾角和方位角调整时的适应性参数；C_min表示常数；N表示当前导频污染子区的数量；α、β表示加权系数；V_i表示第i个基站天线按照设定的下倾角调整幅度调整后的下倾角，V_i0表示第i个基站天线按照在未调整前的下倾角；H_i表示第i个基站天线按照设定的方位角调整幅度调整后的方位角，H_i0表示第i个基站天线按照在未调整前的方位角；i的取值为1～n，n表示导频污染子区的污染基站天线数量。