[发明专利]微处理器可靠性评测方法及其系统有效

专利信息
申请号: 200910241575.1 申请日: 2009-11-26
公开(公告)号: CN101719087A 公开(公告)日: 2010-06-02
发明(设计)人: 潘送军;胡瑜;李晓维 申请(专利权)人: 中国科学院计算技术研究所
主分类号: G06F11/22 分类号: G06F11/22
代理公司: 北京律诚同业知识产权代理有限公司 11006 代理人: 祁建国;梁挥
地址: 100080 北*** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 微处理器 可靠性 评测 方法 及其 系统
【权利要求书】:

1.一种微处理器可靠性评测方法,其特征在于,包括:

步骤1,对间歇故障进行分类,确定待分析的间歇故障所属的故障类型, 并对所述故障类型建立相应的故障模型,确定所述故障模型的关键参数;

步骤2,根据确定的故障类型,从所述微处理器中选择硬件结构,被选 择的硬件结构为待分析的硬件结构;

步骤3,在微处理器中运行测试程序,根据所述关键参数,运用所述故 障模型进行故障模拟,确定测试程序执行过程中待分析的硬件结构包含的体 系结构正确执行位或关键时间区域;

步骤4,根据确定的体系结构正确执行位或关键时间区域,判断发生在 所述硬件结构中的间歇故障是否影响程序执行结果;

步骤5,根据判断结果计算测试程序执行过程中,待分析的硬件结构中 的间歇故障脆弱因子,对微处理器进行可靠性评测。

2.根据权利要求1所述的微处理器可靠性评测方法,其特征在于,

所述步骤1进一步为,

步骤21,根据待分析的间歇故障产生的原因,对间歇故障进行分类;

步骤22,确定待分析的间歇故障所属的故障类型,并对所述故障类型建 立相应的故障模型;

步骤23,确定故障模型的关键参数,所述关键参数包括故障持续时间、 活跃时间以及非活跃时间。

3.根据权利要求1所述的微处理器可靠性评测方法,其特征在于,

所述故障类型包括间歇固定为1或0故障,间歇开路或短路故障,以及 间歇时序故障。

4.根据权利要求3所述的微处理器可靠性评测方法,其特征在于,

所述步骤2进一步为,

步骤41,当间歇故障类型为间歇固定为1或0的故障时,选择微处理器 中的存储结构,所述存储结构为待分析的硬件结构。

5.根据权利要求1所述的微处理器可靠性评测方法,其特征在于,

所述步骤3中确定测试程序执行过程中待分析的硬件结构的体系结构正 确执行位进一步为,

步骤51,根据测试程序执行过程中指令的类型和指令的执行结果的使用 情况,判断出每条指令中包含的体系结构正确执行位。

6.根据权利要求5所述的微处理器可靠性评测方法,其特征在于,

所述步骤51进一步为,指令为空操作指令时,对应操作码为空操作指令 的体系结构正确执行位;如果硬件结构中保存空操作指令,则空操作指令操 作码对应的比特位为所述硬件结构的体系结构正确执行位。

7.根据权利要求1所述的微处理器可靠性评测方法,其特征在于,

所述步骤3中确定待分析的硬件结构的关键时间区域进一步为,

步骤71,根据分析的时间区域内所述硬件结构中的数据是否被读取,判 断所述被分析的时间区域是否为所述硬件结构的关键时间区域。

8.根据权利要求7所述的微处理器可靠性评测方法,其特征在于,

所述步骤71进一步为,对任意一个寄存器,所述时间区域为相邻两次向 寄存器中写入数据的时间间隔,如果在所述时间区域内,写入的数据被读取, 则所述时间区域为关键时间区域。

9.根据权利要求2所述的微处理器可靠性评测方法,其特征在于,

所述步骤4进一步为,

步骤91,对于体系结构正确执行位,判断间歇故障是否影响所述硬件结 构的体系结构正确执行位,如果是,则发生在所述硬件结构中的间歇故障影 响程序执行结果;

步骤92,对于关键时间区域,判断间歇故障是否发生在所述硬件结构的 关键时间区域内,如果是,则所述硬件结构中的间歇故障影响程序执行结果。

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