[发明专利]微处理器可靠性评测方法及其系统有效
申请号: | 200910241575.1 | 申请日: | 2009-11-26 |
公开(公告)号: | CN101719087A | 公开(公告)日: | 2010-06-02 |
发明(设计)人: | 潘送军;胡瑜;李晓维 | 申请(专利权)人: | 中国科学院计算技术研究所 |
主分类号: | G06F11/22 | 分类号: | G06F11/22 |
代理公司: | 北京律诚同业知识产权代理有限公司 11006 | 代理人: | 祁建国;梁挥 |
地址: | 100080 北*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 微处理器 可靠性 评测 方法 及其 系统 | ||
1.一种微处理器可靠性评测方法,其特征在于,包括:
步骤1,对间歇故障进行分类,确定待分析的间歇故障所属的故障类型, 并对所述故障类型建立相应的故障模型,确定所述故障模型的关键参数;
步骤2,根据确定的故障类型,从所述微处理器中选择硬件结构,被选 择的硬件结构为待分析的硬件结构;
步骤3,在微处理器中运行测试程序,根据所述关键参数,运用所述故 障模型进行故障模拟,确定测试程序执行过程中待分析的硬件结构包含的体 系结构正确执行位或关键时间区域;
步骤4,根据确定的体系结构正确执行位或关键时间区域,判断发生在 所述硬件结构中的间歇故障是否影响程序执行结果;
步骤5,根据判断结果计算测试程序执行过程中,待分析的硬件结构中 的间歇故障脆弱因子,对微处理器进行可靠性评测。
2.根据权利要求1所述的微处理器可靠性评测方法,其特征在于,
所述步骤1进一步为,
步骤21,根据待分析的间歇故障产生的原因,对间歇故障进行分类;
步骤22,确定待分析的间歇故障所属的故障类型,并对所述故障类型建 立相应的故障模型;
步骤23,确定故障模型的关键参数,所述关键参数包括故障持续时间、 活跃时间以及非活跃时间。
3.根据权利要求1所述的微处理器可靠性评测方法,其特征在于,
所述故障类型包括间歇固定为1或0故障,间歇开路或短路故障,以及 间歇时序故障。
4.根据权利要求3所述的微处理器可靠性评测方法,其特征在于,
所述步骤2进一步为,
步骤41,当间歇故障类型为间歇固定为1或0的故障时,选择微处理器 中的存储结构,所述存储结构为待分析的硬件结构。
5.根据权利要求1所述的微处理器可靠性评测方法,其特征在于,
所述步骤3中确定测试程序执行过程中待分析的硬件结构的体系结构正 确执行位进一步为,
步骤51,根据测试程序执行过程中指令的类型和指令的执行结果的使用 情况,判断出每条指令中包含的体系结构正确执行位。
6.根据权利要求5所述的微处理器可靠性评测方法,其特征在于,
所述步骤51进一步为,指令为空操作指令时,对应操作码为空操作指令 的体系结构正确执行位;如果硬件结构中保存空操作指令,则空操作指令操 作码对应的比特位为所述硬件结构的体系结构正确执行位。
7.根据权利要求1所述的微处理器可靠性评测方法,其特征在于,
所述步骤3中确定待分析的硬件结构的关键时间区域进一步为,
步骤71,根据分析的时间区域内所述硬件结构中的数据是否被读取,判 断所述被分析的时间区域是否为所述硬件结构的关键时间区域。
8.根据权利要求7所述的微处理器可靠性评测方法,其特征在于,
所述步骤71进一步为,对任意一个寄存器,所述时间区域为相邻两次向 寄存器中写入数据的时间间隔,如果在所述时间区域内,写入的数据被读取, 则所述时间区域为关键时间区域。
9.根据权利要求2所述的微处理器可靠性评测方法,其特征在于,
所述步骤4进一步为,
步骤91,对于体系结构正确执行位,判断间歇故障是否影响所述硬件结 构的体系结构正确执行位,如果是,则发生在所述硬件结构中的间歇故障影 响程序执行结果;
步骤92,对于关键时间区域,判断间歇故障是否发生在所述硬件结构的 关键时间区域内,如果是,则所述硬件结构中的间歇故障影响程序执行结果。
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