[发明专利]一种硅片清洗后的快速干燥方法和装置有效

专利信息
申请号: 200910242236.5 申请日: 2009-12-04
公开(公告)号: CN101718487A 公开(公告)日: 2010-06-02
发明(设计)人: 盛方毓;冯泉林;闫志瑞;葛钟;陈海滨;库黎明;索思卓 申请(专利权)人: 北京有色金属研究总院;有研半导体材料股份有限公司
主分类号: F26B5/16 分类号: F26B5/16;H01L21/00
代理公司: 北京北新智诚知识产权代理有限公司 11100 代理人: 郭佩兰
地址: 100088*** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 一种 硅片 清洗 快速 干燥 方法 装置
【权利要求书】:

1.一种硅片清洗后的快速干燥方法,其特征在于:它包括以下步骤:将硅 片放入干燥槽,将异丙醇通入雾化室雾化成异丙醇汽雾,该异丙醇汽雾经冷凝 室、加热室进入干燥槽干燥硅片,所述的冷凝室的温度控制在2-15℃之间。

2.根据权利要求1所述的一种硅片清洗后的快速干燥方法,其特征在于:冷 凝室与加热室之间有一条接氮气的管道,该氮气的另一端接氮气气源。

3.根据权利要求2所述的一种硅片清洗后的快速干燥方法,其特征是:冷凝 室具有异丙醇收集器,将液化的异丙醇集中收集。

4.一种用于权利要求1所述的硅片清洗后的快速干燥的装置,其特征在于: 它包括:以氮气管路将雾化室、冷凝室、加热控温室、干燥槽依次串联。

5.根据权利要求4所述的硅片清洗后的快速干燥的装置,其特征在于:在 氮气管路入口位置引入一条旁路氮气,将这条旁路管道连接在冷凝室和加热控温 室之间的三通上,使得氮气可以直接经过加热控温室通入干燥槽。

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