[发明专利]一种高速运动状态下电子标签的性能测试方法及系统

权利要求书

1.一种高速运动状态下电子标签测试系统，其特征在于，由待测 电子标签、测试装置和测试设备组成，其中：

所述测试装置包括：转盘、屏蔽罩、电机、支撑台和控制器；电机 安装在支撑台上，电机的转轴与转盘中心处固定连接；控制器的控制 端与电机的控制端连接，电机执行控制器发出的控制命令而转动；所 述屏蔽罩为一长方体罩体，在长方体罩体的前面板上设有半方形空洞， 使得屏蔽罩体内的转盘有一个半圆面暴露；另外，屏蔽罩还配备若干 铁条，铁条长度与罩体长度一致，宽带4厘米，铁条能沿着罩体前面 板两侧的滑槽安装到前面板，随着增加铁条数目的增加，屏蔽罩前面 板半方形的空洞体积减少，使得转盘暴露面积减少；

所述待测电子标签固接于转盘上；转盘和待测电子标签位于屏蔽 罩内；

所述测试设备包括：读写器、测试天线和计算机；计算机与控制器 通过USB接口或RS232串口连接，计算机通过USB接口或RS232串 口向控制器发送控制命令，从而改变与控制器相连的电机行为；计算 机通过RS232串口或网口与读写器连接，通过串口或网口，计算机控 制读写器发起查询指令；测试天线固接于紧固件上，紧固件是由对超 高频射频信号不敏感的材质构成；测试天线与读写器通过串口连接； 测试天线和待测电子标签通过空基以射频连接，读写器内含的控制程 序能对待测电子标签的响应指令作出分析。

2.根据权利要求1所述的高速运动状态下电子标签测试系统，其 特征在于：所述待测电子标签，其工作频率为860～960MHz，读写器 与待测电子标签之间的空中接口协议符合ISO/IEC 18000-6，所述读写 器为超高频读写器。

3.根据权利要求1所述的高速运动状态下电子标签测试系统，其 特征在于：所述的转盘是用高性能工程塑料制造，随着电机的控制， 转盘以不同转速进行旋转，在高速转动时，转盘边缘线速度和待测电 子标签转速最高可以达到62.5米/秒；转盘，其上表面刻有凹槽，凹 槽外侧具有可滑动的卡子，负责嵌住放置在凹槽中的待测电子标签。

4.根据权利要求1所述的高速运动状态下电子标签测试系统，其 特征在于：所述电机，其最高转速可达到500转/分钟，电机的驱动器 具有过压、欠压、过流、相间短路、过热保护、档位可调功能。

5.根据权利要求1所述的高速运动状态下电子标签测试系统，其 特征在于：所述控制器，其选用直流电源、端子台接线方式、继电器 输出的PLC可编程控制器，具有USB标准接口，同时配有触摸屏一 块进行人机交互、设置转速及控制信息。

6.根据权利要求1所述的高速运动状态下电子标签测试系统，其 特征在于：所述支撑台和屏蔽罩以非金属材质制造。

7.根据权利要求1所述的高速运动状态下电子标签测试系统，其 特征在于：所述计算机是装有控制器控制软件、读写器控制软件和分 析软件的个人计算机。

8.根据权利要求7所述的高速运动状态下电子标签测试系统，其 特征在于：所述读写器控制软件和分析软件是能够对待测电子标签的 响应指令作出分析的软件。

9.一种如权利要求1所述系统的高速运动状态下电子标签性能测 试方法，其特征在于，利用高速运动状态下电子标签性能测试装置实 现该测试方法的步骤如下：

步骤A：首先按照将待测电子标签放入转盘的凹槽中，固定好凹 槽外侧的卡子；初始化整个系统设备；

步骤B：利用读写器控制程序向待测电子标签发送查询指令；

步骤C：读写器检测待测电子标签的响应指令，所述的待测电子 标签的响应指令是读写器控制和分析软件能够解析出待测电子标签反 馈的射频信号中包含的电子产品码信息，若不能正确检测，则停止测 试；

步骤D：利用控制器控制软件启动电机旋转，第一次速度为50 转/分，以后速度为当前速度+步长为50转/分；

步骤E：判断电机当前转速，是否已达到电机最大转速，若是，则 停止测试；否则进行下面步骤；

步骤F：重复步骤B～E。