[发明专利]一种模块调试测试方法、系统及测试逻辑装置无效
| 申请号： | 200910243328.5 | 申请日： | 2009-12-21 |
| 公开（公告）号： | CN101710169A | 公开（公告）日： | 2010-05-19 |
| 发明（设计）人： | 万红星 | 申请（专利权）人： | 北京中星微电子有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/3177 | 分类号： | G01R31/3177 |
| 代理公司： | 北京银龙知识产权代理有限公司 11243 | 代理人： | 许静 |
| 地址： | 100083 北京市*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 一种 模块 调试 测试 方法 系统 逻辑 装置 | ||
1.一种模块调试测试系统，用于应用专用逻辑模块的测试，其特征在于，包括：
测试逻辑模块，所述测试逻辑模块的一端连接所述应用专用逻辑模块，所述测试逻辑模块的另一端连接系统总线；
所述测试逻辑模块包括延迟逻辑子模块，用于接收所述应用专用逻辑模块向所述系统总线发送的申请，并在延迟一定的时间计数后将所述申请发送至所述系统总线。
2.根据权利要求1所述的模块调试测试系统，其特征在于，所述测试逻辑模块还包括：
控制子模块，所述控制子模块与所述延迟逻辑子模块连接，用于产生控制信息，通过所述控制信息控制所述延迟逻辑子模块延迟的时间计数。
3.根据权利要求1或2所述的模块调试测试系统，其特征在于，所述测试逻辑模块还包括：
计数逻辑子模块，用于记录所述应用专用逻辑模块向所述系统总线发送申请到所述系统总线回馈所述申请的时间延迟。
4.一种测试逻辑装置，所述测试逻辑装置包括测试逻辑模块，用于应用专用逻辑模块测试的模块调试测试系统中，其特征在于，所述测试逻辑模块包括：
延迟逻辑子模块，用于接收所述应用专用逻辑模块向系统总线发送的申请，并在延迟一定的时间计数后将所述申请发送至所述系统总线。
5.根据权利要求4所述的测试逻辑装置，其特征在于，所述测试逻辑模块还包括：
控制子模块，所述控制子模块与所述延迟逻辑子模块连接，用于产生控制信息，通过所述控制信息控制所述延迟逻辑子模块延迟的时间计数。
6.根据权利要求4或5所述的测试逻辑装置，其特征在于，所述测试逻辑模块还包括：
计数逻辑子模块，用于记录所述应用专用逻辑模块向所述系统总线发送申请到所述系统总线回馈所述申请的时间延迟。
7.一种模块调试测试方法，其特征在于，包括：
延迟逻辑子模块接收应用专用逻辑模块向系统总线发送的申请；
所述延迟逻辑子模块在延迟一定的时间计数后将所述申请发送至所述系统总线。
8.根据权利要求7所述的模块调试测试方法，其特征在于，延迟逻辑子模块在延迟一定的时间计数后将所述申请发送至所述系统总线步骤前还包括：
所述延迟逻辑子模块接收控制子模块产生的控制信息，所述控制信息用于控制所述延迟逻辑子模块延迟的时间计数。
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