[发明专利]集成电路验证方法及其系统

权利要求书

1.一种集成电路验证方法，其特征在于，包括：

步骤1，抽象引擎对待验证的集成电路进行抽象，生成对应的抽象模型， 并且在所述抽象模型上进行形式化计算，以获得形式化信息；

步骤2，激励生成引擎初始化根据待验证的集成电路的规范建立的马尔可 夫模型；

步骤3，激励生成引擎由马尔可夫模型生成激励，将所述激励输入仿真器， 所述仿真器对所述待验证的集成电路进行仿真；

步骤4，所述激励生成引擎依据所述形式化信息比较本周期仿真结果和上 周期仿真获得的仿真结果，如果本周期仿真结果更接近目标状态，则调整所述 马尔可夫模型中参数；

步骤5，如果待验证的集成电路未达到目标状态并且仿真次数未超过预设 次数，则执行所述步骤3；否则，终止仿真，并报告成功或者运行超时。

2.根据权利要求1所述的集成电路验证方法，其特征在于，

所述步骤1进一步为，

步骤21，建立数据依赖图；

步骤22，在所述数据依赖图上进行抽象，生成抽象模型；

步骤23，在所述抽象模型上进行形式化计算，获得形式化信息。

3.根据权利要求2所述的集成电路验证方法，其特征在于，

所述步骤21进一步为，

步骤31，根据待验证的集成电路的硬件描述语言的描述，依据存储目标 状态的目标状态变量建立数据依赖图；所述数据依赖图中，每一个结点代表一 个寄存器变量，两个结点之间的有向箭头表示目标结点对源结点存在数据依赖 关系。

4.根据权利要求3所述的集成电路验证方法，其特征在于，

所述步骤22进一步为，

步骤41，在所述数据依赖图中，从目标状态变量出发，按照逻辑依赖关 系由近及远的回溯，并采用广度优先搜索方式将遍历到的寄存器变量加入到抽 象模型；如果两个存在依赖关系的寄存器变量被加入到所述抽象模型中，则两 个所述寄存器变量之间的组合逻辑也被加入到所述抽象模型中。

5.根据权利要求3所述的集成电路验证方法，其特征在于，

所述步骤22进一步为，

步骤51，在所述数据依赖图中，将所述目标状态变量划分为组，从各个 组的目标状态变量出发，按照逻辑依赖关系由近及远的回溯，并采用广度优先 搜索方式将遍历到的寄存器变量加入到抽象模型的对应子抽象模型中；如果两 个存在依赖关系的寄存器变量被加入到所述子抽象模型中，则两个所述寄存器 变量之间的组合逻辑也被加入到所述子抽象模型中。

6.根据权利要求2所述的集成电路验证方法，其特征在于，

所述步骤23进一步为，

步骤61，采用基于二分决策图的形式化计算工具在所述抽象模型上进行 形式化计算，获得形式化信息，将所述形式化信息记录到抽象距离信息表中， 所述形式化信息包括抽象状态和抽象状态对应的抽象距离。

7.根据权利要求5所述的集成电路验证方法，其特征在于，

所述步骤23进一步为，

步骤71，采用基于二分决策图的形式化计算工具在每个所述子抽象模型 上进行形式化计算，获得形式化信息，将所述形式化信息记录到所述子抽象模 型对应的抽象距离信息表中，所述形式化信息包括抽象状态和抽象状态对应的 抽象距离。

8.根据权利要求1所述的集成电路验证方法，其特征在于，

所述步骤3进一步为，

步骤81，所述激励生成引擎在仿真的每一周期之前，根据马尔可夫模型 的当前配置生成一个周期的激励，并提供给仿真器进行仿真。