[发明专利]一种制备硅基纳米柱阵列的方法无效

专利信息
申请号: 200910244521.0 申请日: 2009-12-30
公开(公告)号: CN102115028A 公开(公告)日: 2011-07-06
发明(设计)人: 贾锐;岳会会;陈晨;刘新宇;叶甜春 申请(专利权)人: 中国科学院微电子研究所
主分类号: B82B3/00 分类号: B82B3/00
代理公司: 中科专利商标代理有限责任公司 11021 代理人: 周国城
地址: 100029 *** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 一种 制备 纳米 阵列 方法
【权利要求书】:

1.一种制备硅基纳米柱阵列的方法,其特征在于,该方法包括:

A、配置氢氟酸基腐蚀液;

B、利用该腐蚀液对硅衬底进行腐蚀;

C、利用酸溶液清洗硅片,去除表面金属颗粒;

D、利用氢氟酸对硅片进行漂洗,形成纳米柱阵列。

2.根据权利要求1所述的制备硅基纳米柱阵列的方法,其特征在于,步骤A中所述氢氟酸基腐蚀液是用体积比为1∶1的氢氟酸、硝酸盐溶液配置的。

3.根据权利要求1所述的制备硅基纳米柱阵列的方法,其特征在于,步骤A中所述氢氟酸基腐蚀液中氢氟酸浓度为4.6M。

4.根据权利要求1所述的制备硅基纳米柱阵列的方法,其特征在于,步骤B中所述硅衬底是纯度大于99.9999%的太阳能级硅衬底,或者是纯度大于99.9999999999%的集成电路级硅衬底,或者是N型掺杂的硅衬底,或者是P型掺杂的硅衬底,或者是晶面指数为(100)的硅衬底。

5.根据权利要求1所述的制备硅基纳米柱阵列的方法,其特征在于,步骤B中所述利用该腐蚀液对硅衬底进行腐蚀,是在腐蚀时将腐蚀液置于防酸装置中,腐蚀时间为10分钟~5小时,腐蚀液温度为20℃~50℃,并进行搅拌以保持浓度一致。

6.根据权利要求1所述的制备硅基纳米柱阵列的方法,其特征在于,步骤C中所述利用酸溶液清洗硅片之前,进一步将腐蚀过的硅衬底先利用去离子水清洗2分钟~3分钟。

7.根据权利要求1所述的制备硅基纳米柱阵列的方法,其特征在于,步骤C中所述利用酸溶液清洗硅片,是利用硝酸溶液将硅片浸泡至少1小时,以去除表面的金属层。

8.根据权利要求1所述的制备硅基纳米柱阵列的方法,其特征在于,步骤C中所述利用酸溶液清洗硅片之后,进一步利用去离子水清洗2分钟~3分钟。

9.根据权利要求1所述的制备硅基纳米柱阵列的方法,其特征在于,步骤D中所述利用氢氟酸对硅片进行漂洗形成纳米柱阵列,是将表面存在氧化层的硅微米柱阵列浸泡在稀释的氢氟酸溶液中,漂掉表面的氧化硅。

10.根据权利要求1所述的制备硅基纳米柱阵列的方法,其特征在于,步骤D中所述利用氢氟酸对硅片进行漂洗形成纳米柱阵列,所用的氢氟酸溶液包括所有的稀释比例。

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