[发明专利]单模红外激光器光波长精确测量装置及测量方法

权利要求书

1.一种单模激光器波长精确测量装置，包括：

一待测激光器；

一外调制器，该外调制器的输入端与待测激光器的输出端通过光纤连接；该待测激光器的输出光经连接光纤被送入到外调制器中；

一微波驱动器，该微波驱动器的输入输出端分别与微波网络分析仪输出端和外调制器的微波输入端连接；

一光纤环形腔，该光纤环形腔的输入端与外调制器的输出端连接；

一光电探测器，该光电探测器的输入端与光纤环形腔的输出端连接；

一温控装置，该温控装置串接在外调制器与光电探测器之间；

一微波网络分析仪，该微波网络分析仪的信号输出端口与微波驱动器的微波输入端连接；该微波网络分析仪的信号输入端与光电探测器的输出端连接。

2.根据权利要求1所述的单模激光器波长精确测量装置，其中光纤环形腔由2×2的光纤耦合器的输入输出端通过一段光纤首尾相连构成。

3.根据权利要求1或2所述的单模激光器波长精确测量装置，其中所述的光纤环形腔置于温控装置内。

4.根据权利要求2所述的单模激光器波长精确测量装置，其中光纤环形腔采用由一光波导器件构成的环形腔替代所述光纤环形腔。

5.一种单模激光器波长精确测量方法，该方法是使用权利要求1所述的测量装置，包括如下步骤：

步骤1：首先模拟环形腔在不同波长下的频率响应曲线；

步骤2：通过微波网络分析仪测量光纤环形腔在不同波长下的频率响应曲线：

步骤3：通过对比模拟和测量得到的频率响应曲线，从而得出待测激光器波长的微小变化。

6.根据权利要求5所述的单模激光器波长精确测量方法，其中对比模拟和测量得到的频率响应曲线进行分析比较，包含频率响应曲线的谷点频率值变化以及相对信号幅度的变化。