[发明专利]散热模块的效能的检测方法

说明书

技术领域

本发明涉及一种散热模块的检测方法，特别是一种准确率高的散热模块的检测方法。

背景技术

近年来随着计算机科技的突飞猛进，使得计算机的运行速度不断地提高，并且计算机主机内部的电子组件(electronic element)的发热功率(heat generation rate)也不断地攀升。为了预防计算机主机内部的电子组件过热，而导致电子组件发生暂时性或永久性的失效，所以现有技术将一散热模块置入计算机主机的内部，以将电子组件所产生的热量排出计算机主机外。

在这些电子组件中，中央处理器(CPU)是计算机主机的电子组件中主要的发热源。中央处理单元在高速运行下，若中央处理单元的温度超出其正常的工作温度范围时，中央处理单元极有可能会发生运算错误，或是暂时性地失效，如此将导致计算机主机死机。此外，当中央处理单元的温度远远超过其正常的工作温度范围时，甚至极有可能损坏中央处理单元内部的晶体管，因而导致中央处理单元永久性失效。

因此，在制造这些计算机时，为了确保每一台被制造完成的计算机的散热模块能够正常的运行，以避免这些计算机因为装配了已损坏的散热模块而无法正常运行，甚至发生永久性的损坏，计算机的制造商往往需要对每一个散热模块进行检验。因此，在制造计算机的领域中，存在着如何快速并且准确地量测每一个散热模块的性能的需求。

发明内容

本发明所要解决的技术问题是提供一种散热模块的效能的检测方法，其能够满足快速并且准确地量测每一个散热模块的性能的需求。

为了实现上述目的，本发明提供了一种散热模块的效能的检测方法：

提供多个第一散热模块；

量测该些第一散热模块在一不均匀热源下的热阻值；

量测该些第一散热模块在一均匀热源下的热阻值；

以一直线方程式描述该些第一散热模块在不均匀热源下的热阻值对应于该些第一散热模块在均匀热源下的热阻值的对应关系；

设定一目标热阻值，其中该目标热阻值代表该些第一散热模块在该不均匀热源下的热阻值；

将该目标热阻值代入该直线方程式以求得对应的一标准热阻值，其中该标准热阻值代表该些第一散热模块在该均匀热源下的热阻值；

提供多个第二散热模块，其中该些第二散热模块的结构与该些第一散热模块的结构相同；

将该些第二散热模块配置于该均匀热源上，并且量测该些散热模块在该均匀热源下的一测试热阻值；以及

标记该测试热阻值高于该标准热阻值的该些第二散热模块。

上述的散热模块的效能的检测方法，其中该些第一散热模块具有一风扇。

上述的散热模块的效能的检测方法，其中该些风扇在该些第一散热模块压合于该不均匀热源上时的转速相同于该风扇在该些第一散热模块压合于该均匀热源上时的转速。

上述的散热模块的效能的检测方法，其中该第一散热模块压合于该非均匀热源的压合力相同于该第一散热模块压合于该均匀热源的压合力。

上述的散热模块的效能的检测方法，其中该第一散热模块压合于该均匀热源的压合力相同于该第二散热模块压合于该均匀热源的压合力。

上述的散热模块的效能的检测方法，其中该直线方程式的回归分析的决定系数大于0.8。

根据本发明所公开的散热模块的效能的检测方法，其包括下述的步骤。提供多个第一散热模块。之后，量测这些第一散热模块在一不均匀热源下的热阻值。接着，量测这些第一散热模块在一均匀热源下的热阻值。然后，以一直线方程式描述这些第一散热模块在不均匀热源下的热阻值对应于这些第一散热模块在均匀热源下的热阻值的对应关系。之后，设定一目标热阻值，其中目标热阻值代表这些第一散热模块在该不均匀热源下的热阻值。接着，将目标热阻值代入直线方程式以求得对应的一标准热阻值，其中标准热阻值代表这些第一散热模块在均匀热源下的热阻值。然后，提供多个第二散热模块，其中第二散热模块的结构与第一散热模块的结构相同。之后，将这些第二散热模块配置于均匀热源上，并且量测这些散热模块在均匀热源下的一测试热阻值。之后，标记测试热阻值高于标准热阻值的第二散热模块。

依据本发明的其它实施例，上述的第一散热模块具有一风扇。

依据本发明的其它实施例，上述的风扇在第一散热模块压合于不均匀热源上时的转速相同于风扇在第一散热模块压合于均匀热源上时的转速。

依据本发明的其它实施例，上述第一散热模块压合于非均匀热源的压合力相同于第一散热模块压合于均匀热源的压合力。